Gebraucht HITACHI S-4300 #293811231 zu verkaufen

HITACHI S-4300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Analyse von Oberflächen, Grenzflächen und Mikrostrukturen verschiedener Materialien verwendet wird. Es kann verwendet werden, um Merkmale auf der Nanometer-Skala zu untersuchen, so dass es ein wesentliches Werkzeug für die wissenschaftliche Forschung. Zu den Hauptmerkmalen und Fähigkeiten des Instruments gehören: ein sekundärer Elektronendetektor, ein Rückstreuelektronendetektor, ein energiedispersiver Spektroskopie-Detektor (EDS), ein schneller Abtastmodus und ein interaktiver Stereomodus. Mit dem Sekundärelektronendetektor können niederenergetische Elektronen erfasst werden, die bei Beschuss mit einem Elektronenstrahl von der Probenoberfläche ausgestoßen werden. Die dann gesammelten Informationen werden verwendet, um ein zweidimensionales Bild der Oberfläche zu erzeugen. Der Rückstreuelektronendetektor verwendet Elektronen, die von der Probenoberfläche zurückgestreut werden, was zu Bildern führt, die Informationen über die obere Teiloberflächenstruktur liefern und einen Hinweis auf die Oberflächenzusammensetzung geben. Der EDS-Detektor dient zur quantitativen Elementaranalyse der Zusammensetzung einer Probe. Dies geschieht durch die Sammlung von Röntgendaten von der Probenoberfläche und anschließend anhand der Daten zur Berechnung der Elementarzusammensetzung der Probe. Der schnelle Scanmodus ermöglicht die Erfassung einer größeren Oberfläche mit einer schnelleren Rate, während der interaktive Stereomodus die Zugabe von Perspektive zu den erzeugten Bildern ermöglicht. Darüber hinaus ist das Instrument in der Lage, hochauflösende Bilder von spezifischen Merkmalen und Objekten zu erhalten. Es ist mit Funktionen für Scan-, Bildgebungs- und Messtechnik-Anwendungen ausgestattet. Um diese Ziele zu erreichen, verwendet das Mikroskop eine automatisierte 3-Achsen-motorisierte Stufe, die Präzisionsabtastung und Bildgebung höherer Auflösung ermöglicht. Insgesamt ist HITACHI S 4300 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Zwecken eingesetzt werden kann. Die umfassende Palette an Merkmalen und Fähigkeiten ermöglicht die genaue Beobachtung und Analyse von Merkmalen und Objekten im Nanometermaßstab und ist somit ein wesentliches wissenschaftliches Gerät.