Gebraucht HITACHI S-4300 #293815108 zu verkaufen

HITACHI S-4300
ID: 293815108
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-4300 Rasterelektronenmikroskop ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen entwickelt wurde. Dieses Mikroskop nutzt fortschrittliche Technologie, um Anwendern leistungsstarke bildgebende Lösungen zu bieten. HITACHI S 4300 verwendet eine Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle, um einen hochauflösenden Elektronenstrahl mit hoher Helligkeit zu erzeugen, der auf eine Vielzahl von Probengrößen und -formen gerichtet werden kann. Dieses Mikroskop verfügt über eine einstellbare Blende, die eingestellt werden kann, um die am besten geeignete Auflösung und Kontrast des Bildes zu ermöglichen. Die Probe kann im SEM-Modus oder im EBSD-Modus (Electron Backscatter Diffraction) bei Auflösungen bis 0,4 nm betrachtet werden. Darüber hinaus kann dieses Mikroskop mit mehreren Detektoren sowohl für die Bildgebung und Analyse verwendet werden, einschließlich Energiedispersive Spektroskopie (EDS) für Elementaranalyse, Spektrometer für winkelaufgelöste Photoemissionsspektroskopie (ARPES), Spektrometer für Röntgenfluoreszenz (XRF F C) für Tiefenprofilinformationen, und Scanning Micropore. S-4300 bietet eine präzise Steuerung der Beschleunigungsspannung und leicht einstellbare Abtastraten, um einen hohen Kontrast und eine hohe Bildauflösung zu gewährleisten. Darüber hinaus umfasst dieses Mikroskop einen Navigations-/Joystick-Controller für eine reibungslose Bewegung und eine einfache Prüfungseinrichtung sowie eine automatisierte Bühne, die eine präzise Aufwärts- und x-y-Positionierung für genaue, wiederholbare Ergebnisse ermöglicht. Darüber hinaus wurde S 4300 entwickelt, um die Anforderungen der laufenden Forschungsanforderungen mit einfachen Wartungs- und Wartungsverfahren und Systemupgrades zu erfüllen. Dieses Mikroskop ist ideal für Forscher, die modernste bildgebende Technologie zur zerstörungsfreien Probenauswertung benötigen.
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