Gebraucht HITACHI S-4300 #293828884 zu verkaufen

HITACHI S-4300 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop zur Materialanalyse und Bildgebung. Es wurde entwickelt, um hochauflösende Bilder und dreidimensionale Mikrostrukturen für eine detaillierte Analyse zu erzeugen. Das Mikroskop besteht aus einer zylindrischen Säule, die eine Elektronenkanone, eine Probenstufe, einen Abbildungsdetektor und ein Bedienfeld aufnimmt. Die Elektronenkanone erzeugt einen Elektronenstrahl, der auf eine Probenprobe fokussiert ist. Die Pistole wurde entwickelt, um eine Wellenlänge von 0,05 nm bis 3,0 nm zu erzeugen, was eine detaillierte Abbildung atomarer Funktionen ermöglicht. Der Elektronenstrahl wird mittels eines Energiefiltersystems manipuliert, das die Vergrößerung des Bildes und die Auswahl spezifischer Elektronenenergiezustände ermöglicht, um eine Reihe unterschiedlicher Bilder zu erzeugen. Die Probenstufe dient zur Aufnahme der Probenprobe während der Bildgebung. Es ist entworfen, um Objekte bis zu einem Zoll dick zu halten und in der Lage, 360 ° zu drehen. Dies ermöglicht eine schnelle Abbildung der Seiten einer Probe und die Erstellung detaillierter dreidimensionaler Bilder. Außerdem ist ein Objektmanipulatorsystem mit der Bühne verbunden, um die Probe während der Bildgebung genau zu bewegen. Die Endkomponente des HITACHI S 4300 ist der bildgebende Detektor. Dies dient zum Nachweis von Sekundärelektronen, rückgestreuten Elektronen und Röntgenstrahlen während der Bildgebung. Durch die Kombination dieser Signale kann der Benutzer ein Hochgenauigkeitsbild der Probe erzeugen. Der Detektor ermöglicht es dem Benutzer auch, den Kontrast und die Helligkeit des Bildes anzupassen, was eine Feinabstimmung des Bildes ermöglicht. Darüber hinaus ist das Mikroskop auch mit Datenerfassungs- und Analysesoftware ausgestattet. Diese Software ermöglicht dem Anwender eine umfassende quantitative Analyse, einschließlich Punktmessung, Linienmessung, Flächenmessung, Mosaikprobenahme und Kompositionsanalyse. Die Software ermöglicht zudem eine automatisierte Bilderfassung und benutzerdefinierte Messungen sowie eine automatisierte Analyse der erfassten Daten. Insgesamt ist S-4300 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das es Forschern ermöglicht, hochauflösende Bilder von Objekten auf mikroskopischer Ebene zu erhalten. Es wurde entwickelt, um klare, detaillierte dreidimensionale Bilder atomarer Merkmale zu erzeugen und eine anspruchsvolle Analyse der erfassten Daten zu ermöglichen.