Gebraucht HITACHI S-4300 #9112452 zu verkaufen

HITACHI S-4300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Charakterisierung von Oberflächen. Es ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FE-SEM), das eine Feldemissionsquelle zur Erzeugung eines Elektronenstrahls hoher Qualität verwendet. Es ist ein einfach zu bedienendes System, das eine sehr detaillierte Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben ermöglicht. HITACHI S 4300 verfügt über eine extrem hohe Auflösung von < 0,8 nm, so dass Benutzer sehr kleine Merkmale beobachten und die Struktur einer Probe in unglaublichen Details charakterisieren können. Es ist mit einem energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDS) ausgestattet, mit dem eine elementare Charakterisierung mit hoher Genauigkeit durchgeführt werden kann. Zusammen machen diese Fähigkeiten es ideal für Anwendungen wie Elektronenmikroskopie von biologischen Systemen, nanotechnologische Materialien, Fehleranalyse und Bildungszwecke. S-4300 kann große Proben behandeln, und seine Zugänglichkeit ermöglicht Beobachtung und Analyse über einen Bereich von Vergrößerungen bis zu 100.000x. Es verfügt über eine breite Palette von Bühnenkippfunktionen mit Winkeleinstellungen von 0 bis 90 Grad. Dadurch eignet es sich gut für ringförmige Untersuchungen und die Betrachtung geneigter Flächen. Es ist auch mit mehreren fortgeschrittenen bildgebenden Techniken wie rückgestreute Elektronenbildgebung und sekundäre Elektronenbildgebung ausgestattet. Rückgestreute Elektronen zeigen Oberflächenmerkmale, Sekundärelektronen feine Details von Materialien. S 4300 bietet auch eine automatisierte Version der Sekundärelektronenbildgebung namens „Gallery Imaging“, die hilft, große Bereiche einer Probe in einem geringen Probe-zu-Detektor-Abstand schnell zu scannen. Diese Funktionen ermöglichen es HITACHI- S-4300, Daten mit einer Auflösung von < 10nm schnell und effizient zu erfassen. Darüber hinaus ist HITACHI S 4300 mit einem leistungsstarken XYZ Piezo-Motor ausgestattet, der automatische Bewegungen in x-, y- und z-Achsen-Ebenen ermöglicht. Auf diese Weise können Benutzer Scanmuster wie Rasterscannen und Zeilenscannen automatisieren. Diese automatisierten Bewegungen bieten schnellere, höherauflösende Bilder mit weniger aufladenden Artefakten. Zusammenfassend ist S-4300 ein fortschrittliches Instrument, das eine qualitativ hochwertige Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben ermöglicht. Dieses Rasterelektronenmikroskop ist mit seinen fortschrittlichen Bildgebungs- und Analysefähigkeiten, seiner ultrahohen Auflösung und einer breiten Palette von Bühnenkippfähigkeiten ein unschätzbares Werkzeug für eine Vielzahl von Anwendungen.