Gebraucht HITACHI S-4300 #9164240 zu verkaufen
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ID: 9164240
Weinlese: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM)
Manual stage system
Operating system: Window NT
Secondary electron image resolution:
1.5 nm or better at 15 kV
5.0 nm or better at 1 kV
Operating system: Windows NT
Magnification: 20x, ~5,000,000x
Accelerating voltage: 0.5, ~30 kV (Variable at 0.1 kV/step)
Image shift: ±3 μm (W.D=30 mm)
Image navigation: Standard for motor drive stage
Specimen thickness: 17 mm
Specimen size through airlock: 100 mm diameter
Specimen stage:
Stage / Standard stage / Large stage
X / 0~25 mm / 0~100 mm
Y / 0~25 mm / 0~50 mm
Z / 5~30 mm / 5~35 mm
R / 360° / 360°
T / -5~+45° / -5~+60°
Electron optics:
Electron source: Cold field emission electron source
Objective aperture: Heated type
Detectors:
Secondary electron detector
YAG BSE Detector (option)
Take-off angle for EDX spectrometer: 30°
CRT Display language: English
PC, OS: PC/AT Compatible, windows
Operation: Mouse, keyboard and function rotary knobs
Viewing monitor: 17" LCD
Automated functions:
Auto-focus
Auto-stigmation
Auto-brightness and contrast
Auto-start
Auto-photo modes
Image processing:
Image manager software
Raster rotation
Frame memory:
640 x 480 pixels
1,280 x 960 pixels
2,560 x 1,920 pixels
Image filing: Built in image data base with search functions
Image format: BMP, TIFF, JPEG
Auto data display:
Accelerating voltage
Magnification micron marker
Micron value
Film number
W.D
Date / Hour
Photo magnification
Detector
Vacuum system: Full automated system with pneumatic valves
Attainable vacuum:
~10-7 Pa (Electron gun)
~10-4 Pa (Sample chamber)
Vacuum pumps:
IP: 60 l/s x 1, 20 l/s´2
DP: 570 l/s 1
RP: 140 (168) l/min x 2 for 60 Hz
Protection system: Power, water and vacuum failures
Includes:
Windows base control system: Diffusion pump
Chiller
(2) Rotary pumps
Missing part: SDD Detector
1999 vintage.
HITACHI S-4300 stellt ein hochauflösendes monochromatisches Rasterelektronenmikroskop dar. Dieses Gerät verfügt über einfache Bedienung, erhöhte Produktivität und geringe Umweltbelastung. Es ist ein großartiger Scanner für eine Vielzahl von analytischen und Forschungsanwendungen. Dieses Modell verfügt über eine einstellbare Beschleunigungsspannung mit einem Maximum von 40kV und einer Auflösung von 1,8 nm und eignet sich somit optimal für hochauflösende Bildgebungs- und Elementaranalysen. Dieses Mikroskop verwendet auch einen Monochromator, um die gewünschte Wellenlänge von Elektronen zur Minimierung von Hintergrundrauschen und für einen verbesserten Kontrast in der Bildgebung auszuwählen. Die elektronenoptischen Komponenten dieses Rasterelektronenmikroskops sind darauf ausgelegt, eine optimale, effiziente Leistung zu gewährleisten und unnötiges Rauschen zu eliminieren. Die Probenkammer ist Stickstoff, der mit einem Pumpsystem gespült wird, um hohe Vakuumwerte aufrechtzuerhalten. Diese Faktoren verringern die Wahrscheinlichkeit von Probenkontamination und Abbau erheblich und bieten gleichzeitig hochauflösende Scanfunktionen. Darüber hinaus verfügt HITACHI S 4300 über einen High Sensitivity Conversion Electron Detector (HS-CED), der eine außergewöhnliche Signal-Rausch-Leistung für verbesserte Bildauflösung und -kontrast bietet. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein Electro Spray Ionization Module (ESI), das für die sekundäre Ionenmassenspektrometrie (SIMS) verwendet werden kann. Diese Daten sind äußerst wertvoll für eine detailliertere Analyse des Probenmaterials. Schließlich bietet S-4300 eine Kippstufe, die für die großflächige Bildgebung oder für die In-situ-Bildgebung verwendet werden kann. Diese Funktion ermöglicht es dem Bediener, eine größere Fläche anzusehen, als dies bei der statischen Standardbildgebung der Fall wäre; dies ist nützlich, um kleinere Partikel zu finden oder die Struktur einer Probe aus mehreren Winkeln zu untersuchen. Insgesamt bietet S 4300 hervorragende Leistung bei der Rasterelektronenmikroskopie. Seine einstellbare Spannung, hochauflösende Bildgebungsfunktionen und die Signal-zu-Rausch-Leistung sorgen für genaue und leistungsstarke Ergebnisse für eine Vielzahl von Forschungs- und Analyseanwendungen. Der kippbare Probenhalter erhöht die Kapazität des Instruments für die großflächige Bildgebung weiter. Dieses Gerät ist ideal für die materialwissenschaftliche Bildgebung, Qualitätskontrolle und Nanotechnologie Forschung.
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