Gebraucht HITACHI S-4300SE Type II #9228128 zu verkaufen

HITACHI S-4300SE Type II Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochbelastbares, hochmodernes Gerät, das sich für eine Vielzahl von Werkstoffanalyseanwendungen eignet. S-4300SE Typ II bietet außergewöhnliche Bildqualität und hochauflösende Bildgebungsfunktionen und ist damit eine ideale Wahl für Labore und Forschungseinrichtungen, die ein zuverlässiges und vielseitiges Bildgebungswerkzeug benötigen. Das Gerät besteht aus einer elektronischen Säule, einer Elektronenstrahlkanone, einem Signalverarbeitungssystem und einer digitalen Multimodus-Schnittstelle. Die Säule ist die Einheit, in der die Elektronenkanone, die Quellkondensatorlinse und die Objektivlinse untergebracht sind. Die Quellkondensatorlinse ist für die Fokussierung der emittierten Elektronen verantwortlich, während die nahe der Probe angeordnete Objektivlinse als Bildvergrößerungslinse dient. Die Signalverarbeitungseinheit ist ein wesentliches Element des SEM, da sie für die Auswertung der von der Probe empfangenen Signaldaten und die Erzeugung eines digitalen Abbildes der Probe zur Betrachtung zuständig ist. Die Maschine ist in der Lage, eine maximale Auflösung von 8 µm zu erreichen, so dass Benutzer scharfe Bilder von „unsichtbaren“ Details in Proben machen können. Die Elektronenstrahlkanone in HITACHI S-4300SE Spaltenkappe Typ II bestimmt die Größe des Elektronenstrahls, der je nach Größe der Objektivöffnung des Geräts variiert. Die Pistole hat eine einstellbare Hochspannungsregelung, die die Spannung des Strahls steuern kann, so dass genauere Messungen möglich sind. Die digitale Multi-Mode-Schnittstelle bietet Anwendern einfachen Zugriff auf das SEM, so dass sie schnell Experimente einrichten und steuern sowie Bilder anzeigen und exportieren können. Diese Funktion ermöglicht es Benutzern, auf Remote-Instrumente zuzugreifen und sie auf Distanz zu steuern, zusätzlich zur Bereitstellung von Zugriff auf Optionen und Software-Tools, die die Bildgebungsfunktionen des Tools weiter verbessern können. Darüber hinaus verfügt S-4300SE Typ II über eine erweiterte Vakuumfähigkeit, die es Anwendern ermöglicht, mit Luft und nichtleitenden Proben in bestimmten Modi zu arbeiten, sowie einen Ladekorrektor, der eine genaue Abbildung dickerer Proben ermöglicht. HITACHI S-4300SE Type II Scanning Electron Microscope ist eine ideale Wahl für hochauflösende Bildgebungs- und Materialanalyseanwendungen. Seine zuverlässige und vielseitige Ausstattung bietet Benutzern eine einzigartige Bildqualität und maximale Auflösung, während seine erweiterte Vakuumfunktionalität und seine digitale Multi-Mode-Schnittstelle seine Fähigkeiten weiter erweitern.