Gebraucht HITACHI S-4300SE #293636336 zu verkaufen

HITACHI S-4300SE ist ein fortschrittliches analytisches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das einfache und zuverlässige Bildgebungs- und Analysefunktionen bietet. Das SEM basiert auf zwei technologischen Fortschritten - High-Performance Analytical Imaging und Low-Vacuum Environmental Scanning. Dieser Aufbau ermöglicht eine hochpräzise Abbildung von Merkmalen kleiner als 0,1 μ m und einer Auflösung von bis zu 3 nm, was 0,05 nm in einem rückgestreuten Elektronendetektor entspricht. Die Hochgeschwindigkeits-, digitale Signalverarbeitung (DSP) und Bildverstärkertechnologie ermöglichen eine stabile Bildgebung und Analyse unabhängig vom Probenmaterial oder der Oberflächengüte. Dies sorgt für Zeitersparnis und effizienten Betrieb. Es ermöglicht auch ein breites Anwendungsspektrum von allgemeiner SEM bis hin zur elektronenrückgestreuten Beugung (EBSD). Die SEM-Einstellungen wie Detektoreinstellungen und Elektronenquelleneinstellungen sind für verschiedene Probengrößen und -eigenschaften anpassbar. HITACHI S-4300 SE nutzt eine leistungsstarke Elektronenquelle, die Feldemissionselektronenquelle vom Typ Schottky, die sich durch ihre Gleichmäßigkeit, Konvergenzwinkel und Strahlstabilität auszeichnet. Mit einer beschleunigenden Spannung von 5-30 kV und einer Leistung von 200 W bietet es genügend Probendeckung und Durchdringung, um die hochauflösende Abbildung kleiner, empfindlicher Strukturen zu erleichtern. Darüber hinaus verfügt es über eine Reihe fortschrittlicher Detektoren - einen Everhart-Thornley (ET) Sekundärelektronendetektor, einen rückgestreuten Elektronendetektor vom Cressburn-Typ, einen Ultrafast Imaging Detector (UFD) und eine Reflexion High Energy Electron Diffraction (RHEED). Die Hauptvorteile von S-4300SE sind seine Vielseitigkeit, Bequemlichkeit und seine Fähigkeit, präzise Bildgebung und Analyse zu liefern. Seine erweiterte Optik und externe Steuerschnittstelle bieten eine bessere Bildgebung und Feinabstimmung der Parameter. Darüber hinaus können Benutzer auf bis zu 3 Betriebsarten zugreifen - Standard, Advanced und Low Vacuum. Dadurch wird sichergestellt, dass Benutzer Elektronenquelle und Detektor entsprechend den spezifischen Eigenschaften ihrer Probe einstellen können. Darüber hinaus reduziert der integrierte EcoMode den Energieverbrauch und vermeidet Kreuzkontaminationen zwischen Proben. Abschließend ist S-4300 SE ein leistungsstarkes, vielseitiges und einfach zu bedienendes Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende Bildgebung mit einer Reihe fortschrittlicher Detektoren und anpassbaren Parametern ermöglicht. Sein ausgeklügeltes Design und die benutzerfreundliche Oberfläche ermöglichen es Anwendern, eine Vielzahl von Proben schnell und genau zu analysieren und so genaue und zuverlässige Recherchen und Analysen zu ermöglichen.