Gebraucht HITACHI S-4300SE #293757972 zu verkaufen

HITACHI S-4300SE
ID: 293757972
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-4300SE ist ein Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Probentypen ermöglicht. Mit seiner fortschrittlichen Rasterelektronik kann HITACHI S-4300 SE eine Auflösung der Transmissionselektronenmikroskopie unter 1 nm und eine Auflösung von bis zu 100 Nanometern im Rasterelektronenmikroskopie-Modus erreichen. Das Mikroskop verfügt über einen Hochgeschwindigkeits-MINT-Detektor, einen neuen On-Axis-Detektor, der zwei Mal schneller als der herkömmliche Off-Axis-Detektor ist und eine höhere Auflösung ermöglicht. Der STEM-Detektor kann auch mit einem Energiefilter kombiniert werden, was eine verbesserte Kontrastabbildung für nichtleitende Proben ermöglicht. S-4300SE verfügt zudem über eine integrierte Kippstufe und eine motorisierte X-Y-Z-Stufe zur automatischen Verlagerung von Proben. Diese Stufe wurde speziell für großflächige Proben entwickelt und ermöglicht eine einfache, genaue und effiziente Probenbehandlung. S-4300 SE integriert auch ein vakuumarmes System, das die Pumpenzeit reduziert und die Instrumentenleistung verbessert. Das System stabilisiert auch die Aufbereitungskammer und entfernt unerwünschtes Material aus der Kammer, bevor eine Analyse gestartet wird. Das Niedervakuumsystem ist in der Lage, den Vakuumdruck schnell und ohne Kühlung der Probe zu reduzieren. Dadurch kann die Probenprobe vorbereitet werden, ohne auf die Abkühlung der Kammer zu warten. Zusätzlich zu seinen hochauflösenden Bildgebungs- und Analysefunktionen verfügt HITACHI S-4300SE über ein benutzerfreundliches Softwarepaket, das eine einfache Einrichtung und Bedienung ermöglicht. Die Software soll den Anwender Schritt für Schritt durch den Prozess der Vorbereitung des Instruments führen, die Probe laden und die Parameter für die Bildgebung einstellen. HITACHI S-4300 SE kommt auch mit einer Auswahl an optionaler Befestigung, um dem Anwender mehr Flexibilität bei der Einstellung der Mikroskopparameter zu bieten. Dazu gehören eine Bildvergrößerungssteuerung, die eine Einstellung der vergrößerten Fläche für hochauflösende Bildgebung und Analyse ermöglicht, und ein Energiefilter für eine verbesserte Kontrastabbildung. S-4300SE ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit einer beeindruckenden Palette von Fähigkeiten und Funktionen, die eine ausgezeichnete Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben bieten. Mit seinen fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen und benutzerfreundlicher Software ist S-4300 SE perfekt für das Studium kleiner Proben geeignet und erfordert minimale Bedienerfahrung. Das Mikroskop eignet sich sowohl für die Forschung als auch für industrielle Anwendungen.
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