Gebraucht HITACHI S-4500 Type I #293603166 zu verkaufen
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ID: 293603166
Weinlese: 1997
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Display unit
SEI Electronic collection
5-Axis of movement
Manual type
Controller
Transformer
Chiller
Air compressor
Optional items: EDS detector and ion sputter coater
Resolution: 1.5 nm
Field emission electron gun
High vacuum system
Ion pump
Diffusion pump
Rotary pump
Magnification configuration: 20x - 500,000x
No ball field
Acceleration voltage: 0.5-30 kV
Operating system: Windows 7
Power supply: 220 V, 20 A, 4 kW, Single-phase
1997 vintage.
HITACHI S-4500 Type I ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das von HITACHI High-Technologies entwickelt wurde. Dieses bemerkenswerte Mikroskopie-Tool kombiniert fortschrittliche Technologie, überlegenes Design und Erschwinglichkeit, um eine kostengünstige SEM-Lösung für eine breite Palette von Forschungs- und Industrieanwendungen bereitzustellen. Das S-4500 Gerät wurde für verbesserte Funktionalität und Benutzerfreundlichkeit konzipiert, und seine Fähigkeiten umfassen hochauflösende Bildgebung bis zu 8 nm, dreidimensionale Oberflächenprofilmessung, EDS-Vollbildanalyse in 10 Bildern pro Sekunde und automatisierte Partikelgrößenanalyse. Es ist mit einem leistungsstarken schwingungsarmen Basisrahmen, einem überlegenen Stufenbewegungsmechanismus und einem Sekundärelektronendetektor mit hohem Transmissionswert für eine qualitativ hochwertige Abbildung biologischer Proben ausgestattet. Das S-4500 verfügt über einen automatisierten Probenzentrierungsmechanismus, der das automatische Einführen von Proben in die Probenkammer ermöglicht und es Anwendern ermöglicht, einfach und schnell Experimente einzurichten. Darüber hinaus verfügt das System über eine 4-Achsen-Stufe, die es Benutzern ermöglicht, die Probe frei in jede Richtung zu positionieren und eine vollständige dreidimensionale Analyse zu ermöglichen. Das Gerät enthält außerdem einen rauscharmen, automatisch kalibrierten hochauflösenden Bilddetektor, der eine klare und kontrastreiche Bildgebung zur Identifizierung und Analyse von Submikronmerkmalen bietet. Darüber hinaus verfügt das Softwarepaket über eine leistungsstarke 3D-Bildgebung, mit der Benutzer Oberflächentopographie und -form visualisieren können. Das S-4500 bietet wirklich beeindruckende Bildgebungsfunktionen mit minimalem mechanischen Rauschen und ist somit eine ideale Wahl für ultrageräuscharme Objektbilder. Die integrierte Probenhandhabungsmaschine ist auf einfache Bedienung ausgelegt und bietet eine schnelle und effiziente Beladung, Greifung und Positionierung der Probe. Das S-4500 ist ein vielseitiges und preisgünstiges Rasterelektronenmikroskop mit schmalem Winkel, ideal für die hochpräzise Bildgebung und Analyse eines breiten Spektrums von Probentypen. Es ist für einfache Bedienung konzipiert, bietet intuitive Software, ausgezeichnete Bildqualität und eine Reihe von vollautomatisierten Beispielverarbeitung. Dadurch ist das S-4500 ein ideales Werkzeug für eine Vielzahl von Anwendungen von der industriellen Qualitätskontrolle bis hin zur fortschrittlichen wissenschaftlichen Forschung.
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