Gebraucht HITACHI S-4500 Type I #9234337 zu verkaufen

ID: 9234337
Wafergröße: 2"
Weinlese: 1995
Scanning Electron Microscope (SEM), 2" Resolution: 1.5 nm (15 kV WD-4 mm) 4.5 nm (1 kV WD-3 mm) Magnification: F: x50 ~ x500,000 F: x20 ~ x1,500 Electron optical system: Cold cathode field emission electron gun Extractor voltage: 0 ~ 6.5 kV Accelerator voltage: 0.5 ~ 30 kV Lens system: 3-Stage electromagnetic lens reduction system Object lens aperture: 4-Position externally selectable Scanning coil: 2-Stage electromagnetic X: 0~25 mm Y: 0~25 mm Z: 3~28 mm Range:-5° ~ + 45° Rotation: 360° Maximum diameter: 50 mm Scanning mode: Normal reduced area Line scan Photo scan Spot position Split screen Scanning speed: TV, 0.3. 2, 10 (9), 20 (26) Sec / Frame 40 (35), 80 (100), 160, 320 Sec / Frame Signal processing: Real-time processing Auto-brightness Contrast control Dynamic stigmator Vacuum system: Full automatic operation With pneumatic valve control Ultimate vacuum: Electron gun chamber: 10^-7 Pa Specimen chamber: 10^-4 Pa (3) Ion pumps Diffusion pump (2) Mechanical pumps Air compressor Protective device: Blackout Water outage Low vacuum 1995 vintage.
HITACHI S-4500 Type I ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für allgemeine Forschungszwecke. Es wurde für die bildgebende, elementare und chemische Analyse und elementare Kartierung einer Vielzahl von Probentypen entwickelt. S-4500 Typ I hat eine Beschleunigungsspannung von 0,1 bis 30 kV, eine Mindestfleckgröße von 1 nm und eine maximale Vergrößerungsleistung von 950.000x. Zusätzlich ist das Mikroskop mit zwei Umgebungskammern, einer neuen Feldemissionselektronenkanone und einem rauscharmen Detektor ausgestattet. HITACHI S-4500 Typ I ist sowohl zur Standard-Rasterelektronenmikroskopie als auch zur analytischen energiedispersiven Röntgen- (EDX) Spektroskopie in der Lage. Diese fortschrittliche Bildgebungstechnologie ermöglicht es Benutzern, die Struktur und Zusammensetzung von Proben auf der Nanoskala zu visualisieren, zu messen und zu analysieren. EDX hat eine Nachweisgrenze von 12 ppm und eine Auflösung von 1,2 eV, die eine hochpräzise Elementaranalyse ermöglicht. Das EDX-System ist auch mit einer automatischen Programmierfunktion ausgestattet, um die Analyse mehrerer Proben zu erleichtern. S-4500 Typ I ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für hochpräzise Bildgebung, Analyse und elementare Kartierung in physikalischen, chemischen und biologischen Anwendungen optimiert ist. Die Feldemissionselektronenkanone und die Umgebungskammern ermöglichen eine Bildgebung mit hoher Auflösung und geringem Rauschen. Darüber hinaus verfügt das EDX-System über eine Nachweisgrenze von 12 ppm und eine Auflösung von 1,2 eV, was eine hochpräzise elementare und chemische Analyse ermöglicht. Zusammenfassend ist HITACHI S-4500 Type I eine ideale Wahl für Forscher, die Hochleistungs-Bildgebungs- und Analysefunktionen benötigen.
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