Gebraucht HITACHI S-4500 Type II #293592472 zu verkaufen
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ID: 293592472
Weinlese: 1996
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
1996 vintage.
Typ II von HITACHI S-4500 ist eine Hochleistungstischabtastung des Elektronmikroskops (SEM), die entworfen ist, um die Nachfragen einer breiten Reihe der Forschung und Industrieanwendungen zu befriedigen. Mit dem Fokus auf Bildgebung und Analyse bietet HITACHI S-4500 TYPE-II hervorragende bildgebende Funktionen mit einer großen Probenkammer und einem hochauflösenden Bild von bis zu 2 µm. S-4500 Typ II verwendet mehrere bildgebende Techniken, wie sekundäre Elektronenbildgebung (SEI), rückgestreute Elektronenbildgebung (BSE), energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (WDS). S-4500 TYP-II ist mit einer einzigartigen TFEG-Elektronenquelle für die ultrahochauflösende SEM-Bildgebung ausgestattet. Das fortschrittliche Design der TFEG-Elektronenquelle mit ihren höheren Elektronendosen, höheren Strahlenergien und überlegener Leistung bietet Anwendern die Möglichkeit, sehr kleine Eigenschaften von Proben (bis auf < 2 nm) mit höherem Kontrast und schärferen Bildern zu messen. HITACHI S-4500 Type II kommt mit einer großen Probenkammer und einem breiten Zubehör für präzises Probenhandling. Die Probenkammer ist mit hierarchischen X-Y-Abtaststufen für präzise Probenpositionierung und -kalibrierung, vollständigen autokorrelativen Stufen für präzise Probenpositionierung, vollständigen Autokorrelationsstufen mit Laufstufen von bis zu 100 mm und einem Probenkühlkörper ausgestattet, um thermische Drift in der Probenkammer zu vermeiden. Zur Verbesserung der Beispielvisualisierung und -analyse stehen mehrere automatisierte Analysefunktionen zur Verfügung, die Messfunktionen und die Möglichkeit zum Hinzufügen von Anmerkungen und Zeichnungen zu den Bildern umfassen. HITACHI S-4500 TYPE-II unterstützt eine breite Palette von automatisierten Echtzeit-Analysen, einschließlich Partikelanalyse, elementarer Kartierung und Erkennung und erweiterter Linienprofilierung. S-4500 Typ II verfügt über ein aktives Temperaturregelsystem mit geschlossenem Kreislauf für eine verbesserte Temperaturstabilität an der Probenkammer, was die Gesamtabbildungsleistung und die Wiederholbarkeit der Ergebnisse verbessert. Die breite Palette an Bildgebungs-, Analyse- und Automatisierungsfunktionen machen es zu einem idealen Werkzeug für die detaillierte Mikrostrukturanalyse einer Vielzahl von Proben.
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