Gebraucht HITACHI S-4500 Type II #9223115 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S-4500 Type II ist ein fortschrittliches Forschungsinstrument zur Bildgebung und Analyse von Materialien im Nanoskalibereich. Es ist in der Lage, hochauflösende Rasterelektronenmikroskop (SEM) Bilder mit einem Vergrößerungsbereich von bis zu 500.000 × zu erzeugen. Das Instrument weist einen Sekundärelektronendetektor, einen rückgestreuten Elektronendetektor und eine Reihe von In-Column-Detektoren zum Detektieren und Analysieren von Oberflächen- und oberflächennahen Strukturen unterschiedlichster Probenmaterialien auf. Es ist auch mit einer kryogenen Stufe ausgestattet, mit der Proben auf flüssige Stickstofftemperaturen gekühlt werden können, um die Bildqualität zu verbessern. Das S-4500 verfügt über eine Vielzahl fortschrittlicher Bildverarbeitungsfunktionen, einschließlich automatisierter Messung und Mustererkennung für schnelle und hoch trainierte Oberflächencharakterisierung. Seine variable Vakuumkammer ermöglicht die Messung von Proben in verschiedenen Druckniveaus und ermöglicht die Bildgebung und Analyse von empfindlichen biologischen Proben wie biologischen Geweben, abgeschiedenen Molekülen und Objekten auf Nanometerebene, ohne die Probe erheblich zu beschädigen. Das S-4500 ist das fortschrittlichste SEM der HITACHI S-Serie. Es bietet erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen wie Bildautofokus, Querschnittsmessung, Helligkeitssteuerung und automatische Filter bieten überlegene Analyse und Bildklarheit sowie eine verbesserte Benutzeroberfläche. Gepaart mit seiner schnellen Bildaufnahmefrequenz ist das S-4500 ein leistungsfähiges Werkzeug zum Analysieren und Vergleichen von Bildern in einem Bruchteil der Zeit. Das S-4500 verfügt über eine große Probenstufe und eine breite Palette von Objektiven für das Studium von Proben in einer Vielzahl von Größen und Formen. Seine Probenstufe ist mit einem hochgenauen X/Y/Z-Bewegungssystem zur variablen Vergrößerung und Bildgrößensteuerung für optimale Bildgebungsleistung gekoppelt. Das S-4500 verfügt außerdem über ein oberflächengesteuertes optisches System mit fortschrittlicher Optik und einem zweiachsigen Stufen-Motor zur automatischen Ausrichtung von Probenmaterialien zur genauen Positionierung und Charakterisierung. Das Objektiv mit hoher numerischer Apertur bietet eine verbesserte Auflösung und verbesserte Tiefenschärfe, sodass Forscher Probenmerkmale mit mehr Klarheit und Genauigkeit beobachten und analysieren können. Insgesamt ist HITACHI S-4500 TYPE-II ideal für fortgeschrittene Forschung und Entwicklung in Bereichen wie Halbleiter, Nanotechnologie und Biologie. Es bietet das höchste Maß an Bildgenauigkeit und schnellen Bildgebungsfunktionen, so dass Benutzer anspruchsvolle Experimente und Analysen mit Leichtigkeit und Genauigkeit durchführen können.