Gebraucht HITACHI S-4500 Type II #9230775 zu verkaufen

HITACHI S-4500 Type II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit bildgebenden und analytischen Anwendungen. Das hochauflösende SEM verwendet eine Elektronenkanone, um einen Elektronenstrahl zu erzeugen, der dann auf die Probenoberfläche fokussiert wird, wodurch Beobachtungen von Oberflächenmerkmalen, Elementverteilungen und kompositorischen Kartierungen ermöglicht werden. Der Kontrast zwischen einem Probenmerkmal und seiner Umgebung kann ebenfalls im Detail beobachtet werden. HITACHI S-4500 TYPE-II verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle, die einen Elektronenstrahl mit einem Energiebereich von 10 kV bis 30 kV erzeugt. Diese Energie wird dann verwendet, um eine Probenoberfläche mit einer Auflösung von 0,17 nm und einem Nachweis von 0,1 nm an nichtleitenden Proben abzutasten, wobei eine Subnanometerauflösung an leitenden Proben möglich ist. Verschiedene Elektronendetektoren im SEM messen die Sekundärelektronen der Probe, die zurückgestreuten Elektronen und die reflektierten Elektronen und liefern reiche Informationen über die Probe, wie Topographie, Zusammensetzung und Bindungstypen. Für analytische Zwecke ist S-4500 Typ II mit zwei energiedispersiven Röntgenspektrometern (EDS) und zwei Wellenlängen-Dispersiven Röntgenspektrometern (WDS) ausgestattet. Unter Verwendung dieser Spektrometer können elementare Zusammensetzung und Kristallphasen einer Probe detektiert und detailliert analysiert werden. Das SEM kann auch Probeneigenschaften wie elektrische Leitfähigkeit, Kontaktpotentialdifferenz und Oberflächenladung erfassen, messen und abbilden. Die Analyse der Probe wird mit einem 2D-Anzeigegefühl und numerischen Werten für identifizierte Elemente angezeigt. Darüber hinaus nutzt S-4500 TYPE-II sein Umweltsystem, um eine sichere Probenbeobachtung zu gewährleisten. Zum Schutz vor äußeren Einflüssen ist das SEM mit einer Vakuumkammer, einer Kryopumpeneinheit, einem optionalen Gaseinlasssystem, einer Probenheizung und Vergrößerungseinstellungen ausgestattet, um eine sichere und stabile Probenanalyse zu gewährleisten. Durch die Nutzung seines Rasterelektronenstrahls und der mehrfach angeschlossenen Spektrometer ermöglicht HITACHI S-4500 Type II Scanning Electron Microscope eine effiziente Bildgebung und Analyse von Probenoberflächen und liefert wertvolle Daten zur Topographie, Elementarzusammensetzung und Phase auch bei Subnanometer-Auflösung. Das Umweltkontrollsystem unterstützt zudem die sichere und präzise Analyse einer Probe und gewährleistet präzise und zuverlässige Daten.