Gebraucht HITACHI S-4500 #130136 zu verkaufen
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ID: 130136
Wafergröße: 2"
Weinlese: 1994
FE SEM, 2”
Performance:
Secondary electron image resolution: 1.5 nm at 15kv
Magnification: 20X - 500KX
Electron Optics:
Electron gun: Cold field emmission source
Lens type: electromagnetic
Objective aperture: 4 position externally selectable
Stigmator: Octopole electromagnetic
Scanning coil: 2-stage electromagnetic
Sample Chamber
Airlock: prepumped, max sample size:100 mm or 150 mm diameter
Stage motion: 5 axis manual
X/Y: 100mm/50 mm, Z: 3-33 mm, T: -5 Deg - +60 Deg., R: 360 deg continuous
Display system:
Image display: Dual 12" monitors
Scanning mode: Normal, reduced area , line scan, photo scan, spot position, split screen
Scanning speed: TV, 0.3, 2, 9, 25, 35, 100, 160 320 s/frame
Signal processing:Real-time processing, auto-brightness and contrast control, dynamic stigmator, autofocus, a Frame averaging, frame integration, contrast conversion,
Vacuum system:
Full automatic operation with pneumatic valve control
Ultimate vacuum: 10 (-7) Pa in electron gun chamber, 10(-4) Pa in specimen chamber
Ion pump: 60 L/s X1, 20 L/s X2
Specimen chamber: DP (570 L/s); Turbo Optional
Foreline: Rotary pump X2
Accessories (Optional)
EDX:at 30 Deg. take off angle
Digital Image capturing: Orion-6 software, Optional
Chilled water circulator: 10 - 20 deg C, 1.0 -1.5 L/m for DP only
Installation
AC: Single phase AC 220 or 240 volt, 50/60 Hz
Grounding: Independent grounding 100 Ohms or less
1994 vintage.
HITACHI S-4500 ist ein Rasterelektronenmikroskop, das häufig in wissenschaftlichen Forschungslabors verwendet wird. Dieses fortschrittliche Instrument bietet aufgrund des gleichzeitigen Betriebs von Feld- und Backscatter-Detektoren eine extrem hochauflösende Bildgebung. Es bietet auch eine automatisierte Bedienung mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche und hervorragenden automatischen Funktionen. HITACHI S 4500 verwendet eine Elektronenoptiksäule, die Elektronen durch die Filament-Elektronenkanone erzeugt und die Elektronen mit einer Ablenkelektronensäule steuert. Die Pistole erzeugt Strahlelektronen, die durch die Säule laufen und durch eine Kondensatorlinse fokussiert werden, die dann auf die Probe trifft, um Sekundärelektronen zu erzeugen. Die Sekundärelektronen werden mit den Detektoren detektiert, während sowohl die Primärelektronen als auch die von der Probe gestreuten Elektronen von den Detektoren als Rückstreuelektronen gesammelt werden. S-4500 kommt mit einer Vielzahl von Software-Paketen wie Bildeinstellung, Bildbearbeitung und -rekonstruktion, Bilddatenverarbeitung, Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD), Energiedispersive Spektroskopie (EDS), EDS/EBSD-Integration und Partikelgrößenanalyse. Diese Programme verwenden die Detektorinformationen, um verschiedene Bilder der Probe sowie Kanten, Korngröße und andere Datenmessungen aus der visualisierten Probe zu erzeugen. S 4500 ist unglaublich vielseitig und kann leicht für eine Vielzahl von Zwecken manipuliert werden. Es hat eine maximale Vergrößerung von 500.000 mal entfernte Vergrößerung, ein Sichtfeld von 118nm, und ist in der Lage, die Oberflächenrauhigkeit und die Dicke der Probe zu erfassen. Der Betriebswinkel kann auch auf jeden Winkel zwischen 0 und 45 ° eingestellt werden, während insgesamt 60 Schritten für die Probendrehung gewählt werden können, was eine hochgenaue Abbildungsoption bietet. Dank seiner hochauflösenden Bildgebungsfunktionen, seiner exzellenten Automatisierung und seiner außergewöhnlichen Vielseitigkeit ist HITACHI S-4500 ein leistungsfähiges Werkzeug in Forschungslabors und anderen Umgebungen. Mit seiner benutzerfreundlichen Oberfläche und hervorragenden automatischen Funktionen können Anwender dieses hochmoderne Instrument schnell nutzen. Insgesamt ist HITACHI S 4500 ein wichtiger Bestandteil eines jeden Labors und kann einen besseren Einblick in komplizierte Proben bieten und eine hochgenaue Analyse ermöglichen.
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