Gebraucht HITACHI S-4500 #293594619 zu verkaufen

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ID: 293594619
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-4500 ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FE-SEM) für hochauflösende Bildgebung. Es ist ein Hochleistungs-FE-SEM der nächsten Generation, das auf einem polarisierten Felddesign basiert und mit einer neuen, Hochgeschwindigkeits-Scanausrüstung ausgestattet ist. HITACHI S 4500 bietet außergewöhnlich hohe Auflösung, Bildstabilität und Bildkontrast und ermöglicht es, Informationen aus einer Vielzahl von Proben und Materialien zu erfassen. S-4500 verfügt über eine große Kammer, hohe Stabilität und geringe Vibration. Die Kammer ermöglicht eine breite Palette von bildgebenden Techniken und Umgebungsbedingungen. Ein On-Board-Umweltkontrollsystem (ECS) ermöglicht die manuelle oder automatisierte Steuerung von Temperatur, Gas und Druck, wodurch es einfach ist, mehrere Experimente einzurichten und zu steuern. Ein eingebauter Motorgenerator bietet bis zu 160 mm Bewegungen und die Probenstufe ist geräuscharm und hochpräzise. S 4500 wurde entworfen, um eine breite Palette von Anwendungen, einschließlich hochauflösender Bildgebung, Beispielfokus-Optimierung, 3D-Sampling, verwandte Softwarepakete und evolutionäre Integration, aufzunehmen. Es verfügt über eine integrierte HD-Kamera (kompatibel mit den meisten HITACHI S-4500 Kameras) und eine direkte Verbindung zum HD-Monitor, so dass Bilder übertragen werden können, während die Probe gescannt wird. Die Kamera ermöglicht auch die Analyse größerer Proben über eine Vielzahl von Vergrößerungen. Wenn es um die Leistung von HITACHI S 4500 geht, ist seine Feldpistole (FEG) in einer eigenen Liga. Das FEG-Design ist einzigartig in seiner Fähigkeit, sowohl hochauflösende Bilder als auch hochvergrößerte Bilder gleichzeitig zu erzeugen. Es erzeugt eine beeindruckende Auflösung bis zu 1 nm, was eine Submikron-Bildgebung und eine maximale Vergrößerung von 500.000x ermöglicht. S-4500 ist auch in der Lage, spektroskopische Messungen über einen energiedispersiven Röntgendetektor (EDXD) und eine Kathodolumineszenzeinheit (CLS) durchzuführen. Das EDXD sorgt für eine genaue Analyse der elementaren Zusammensetzung einer Probe, und das CLS ist ideal für die Untersuchung von lumineszierenden Materialien. Um einen zuverlässigen und genauen Instrumentenbetrieb zu gewährleisten, verfügt S 4500 auch über eine Reihe von Software und automatischen Funktionen, einschließlich Ultraschallreiniger, reproduzierbare Probenreinigung, eine Vakuumverriegelungsmaschine und ein automatisches Mikroskop-Ausrichtwerkzeug. Dieses automatisierte Alignment-Asset ermöglicht es dem Benutzer, eine genaue Vergrößerungskalibrierung einzurichten und beizubehalten, wodurch echte Querbilder erzeugt werden können. HITACHI S-4500 Rasterelektronenmikroskop kombiniert hervorragende Leistung mit Zuverlässigkeit und Benutzerfreundlichkeit und ist die ideale Wahl für hochauflösende Bildgebung, Probenfokus-Optimierung und evolutionäre Integration. Mit seinem einzigartigen FEG-Design, seinen spektroskopischen Messungen, der Bildgebung mit hoher Vergrößerung, fortschrittlicher Software und automatischen Funktionen liefert HITACHI S 4500 optimale Ergebnisse in allen Beispielanwendungen.
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