Gebraucht HITACHI S-4500 #293634652 zu verkaufen

ID: 293634652
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-4500 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsstarkes und zuverlässiges bildgebendes und analytisches Instrument. Es ist mit einer großen Kammer und einem hochauflösenden Vakuum-SE (Variable Pressure SE) -Detektor ausgestattet, so dass der Benutzer detaillierte und hochauflösende Bilder von Proben erfassen kann. HITACHI S 4500 ist in der Lage, hoch detaillierte und genaue 3D-Bilder zu produzieren sowie eine Vielzahl von Zusammensetzungen und physikalischen Eigenschaften von Proben anzuzeigen, dank seiner großen Kammer, einem großen Sichtfeld, einem hochauflösenden Vakuum-SE-Detektor und mehreren fortschrittlichen Bildgebungstechnologien. S-4500 basiert auf der Technologie der Elektronenfeldemission und nimmt zwei Hauptarten von Detektionssystemen für unterschiedliche bildgebende Aufgaben an. Beide Systeme verwenden Elstar-Detektoren, die eine Auflösung von bis zu 5 nm bieten können. Es gibt auch einen Monochromator für die Systeme zur selektiven Bildgebung. S 4500 hat eine umfangreiche Sammlung von bildgebenden Modi, einschließlich: sekundäre Elektronenbildgebung (SEI); rückgestreute Elektronenbildgebung (BSE); Kathodolumineszenz; Mikrosonde; und eine Vielzahl von analytischen Techniken, wie Energiedispersive Spektroskopie (EDS). HITACHI S-4500 ist mit einer Standard-Betriebssoftware ausgestattet, und HITACHI bietet zusätzliche Softwarepakete, um die Leistung des Instruments zu optimieren. Zunächst bietet das Paket „e-Imaging“ eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI) mit 3D-Mapping-Funktionen und das automatisierte Bildverarbeitungsprogramm „Image Scan“. Beide Pakete ermöglichen es dem Benutzer, den Betrieb auf seine individuellen Bedürfnisse abzustimmen und sicherzustellen, dass die Bilder mit maximaler Effizienz und Genauigkeit erzeugt werden. Zusätzlich kann die Probentemperatur durch das optionale Kühlsystem gesteuert werden, was eine genauere Untersuchung von Proben auf eine Vielzahl von Materialien ermöglicht. HITACHI S 4500 kann über mehrere Peripheriegeräte, wie Sekundärelektron (SE) und Rückstreuelektronendetektor (BSE), Stufenautomatisierungssteuerung und Software, sowie eine Probenkammerheizung in ein Laborsystem integriert werden. Die Heizung wird verwendet, um die Temperatur der Probenkammer zu erhöhen, um die thermische Ausdehnung von Teilen während der Elektronenstrahlbelichtung zu verringern. Zusätzlich können S-4500 mit einem Mikroskopständer für einfache Bedienung und sichere Probenpositionierung integriert werden. Insgesamt ist S 4500 SEM eines der zuverlässigsten, genauesten und vielseitigsten Rasterelektronenmikroskope, die es gibt. Mit seiner Kombination aus fortschrittlichen Bildgebungs- und Analysetechniken, hochauflösenden Detektoren und optionalen Peripheriegeräten können Anwender wissenschaftliche Ergebnisse mit maximaler Effizienz erzielen.
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