Gebraucht HITACHI S-4500 #293799821 zu verkaufen

HITACHI S-4500 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das vielseitige und kostengünstige bildgebende Funktionen für ein breites Anwendungsspektrum bietet. HITACHI S 4500 SEM umfasst eine Reihe fortschrittlicher Funktionen, wie einen hochauflösenden variablen Druckdetektor mit Echtzeitanzeige der Kammerbedingungen, sowie eine umfassende Palette von automatisierten Operationen. S-4500 verfügt über eine beeindruckende Palette von Technologien, wie eine TrueVIS erweiterte Feldemissionspistole, einen hochauflösenden kritischen Blendendendruckdetektor, eine magnetisch schwebende Kippstufe und ein automatisiertes Halo-Kontrast-Bildgebungssystem. Die TrueVIS-Pistole ist ein wichtiger Bestandteil der Bildverarbeitungsplattform des S 4500 und bietet eine hervorragende Waffenstabilität und eine breite Palette von Funktionen. Nahtloses Umschalten zwischen hoher und niedriger Vergrößerung, kombiniert mit Beschleunigungsparametern von 0.1V nach 10kV und einem hochgenauen Ablenksystem für genaue Stufen- und Bildausrichtung, sorgen für maximale Leistung. Darüber hinaus ermöglichen die TrueVIS-Pistole und der hochauflösende Detektor eine maximale Bildauflösung und eine hervorragende Kontrolle der Kammer- und Bildgebungsbedingungen. HITACHI S-4500 ist zudem mit einer hochwertigen, hochauflösenden Säule ausgestattet, die zuverlässige und genaue Bildgebungsbedingungen gewährleistet. Das SEM verfügt über eine automatisierte, 4 + 1-achsig robotisch betriebene Probenstufe, die die Ausrichtung von Proben ermöglicht und gleichzeitig ein uneingeschränktes Rangieren ermöglicht. Fortschrittliche automatisierte Probennavigation mit Joystick-Befehlen und einem ultrahohen Nanozentrum ermöglichen auch ein einfaches Scannen und eine einfache Ausrichtung verschiedener Probenbereiche. Darüber hinaus ist die FEG-Emissionspistole der HITACHI S 4500 SEM mit einem 3-Punkt-Schaft-Vakuumantrieb und einer hochpräzisen Ablenklinse ausgestattet, die eine zuverlässige und hochgenaue Bildgebung unterstützt. S-4500 SEM bietet auch eine Reihe von automatisierten und manuellen Optionen für die Probenvorbereitung. Automatische Dickeneinstellung, automatische Kantenerkennung und laserbasierte Fokussierung und Verstärkungsfunktionen sorgen für mehr Produktivität und Benutzerfreundlichkeit. Die automatisierte Musteraustauschfunktion unterstützt den schnellen Probenwechsel, während eine integrierte automatische Reinigungsfunktion für höchste Bildqualität sorgt. S 4500 ist außerdem mit einem automatisierten automatisierten Datenmanagement- und Analysesystem nach der Bildgebung ausgestattet, um den Workflow zu optimieren. HITACHI S-4500 ist ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop, das ausgezeichnete Bildqualität und hervorragende Flexibilität liefert. Seine fortschrittlichen Technologien und automatisierten Betriebsmerkmale bieten eine umfassende Palette von Optionen, die es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen machen. Mit seinem umfassenden Leistungsspektrum bietet HITACHI S 4500 hervorragende Leistung, Zuverlässigkeit und Erschwinglichkeit.