Gebraucht HITACHI S-4500 #293802907 zu verkaufen

HITACHI S-4500 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hochauflösende Bildgebung unter UHV-Bedingungen (Ultra High Vacuum) entwickelt wurde. Es bietet Bilder von Proben mit bis zu 30,000X Vergrößerungen sowie tiefenaufgelöste Analyse tieferer Schichten. Das SEM ist mit einer Elektronenoptik mit hoher Vergrößerung ausgestattet, die notwendig ist, um eine Auflösung bis auf 0,6 nm zu erreichen. Dazu gehören eine Wolframfadenquelle, eine Differentialpumpkammer, ein Projektorlinsensystem und eine Reihe von Ablenkspulen. Darüber hinaus verfügt HITACHI S 4500 über eine vorjustierte Probenkammer, automatische Probenein- und -entnahme sowie ein proprietäres digitales Strahlbewegungskorrektursystem, um höchste Präzision zu gewährleisten. Um die bildgebenden Fähigkeiten zu maximieren, verfügt S-4500 über einen Elektronenstrahl, der im sekundären Elektronen- (SE) oder BSE-Modus (Backscattered Electron) abgestimmt werden kann. Der bildgebende Bereich kann auch in Schritten von 1x1mm auf 85x85mm geändert werden. S 4500 ist mit einer Reihe von Detektoren ausgestattet, die topographische und elementare Kompositionskarten von gescannten Proben bereitstellen können. Dazu gehören ein Sekundärelektronendetektor, ein Rückstreudetektor, ein Solariumelektronendetektor und ein Laser-Auger-Elektronendetektor. Darüber hinaus ist HITACHI S-4500 sowohl für manuelle als auch automatisierte Analysen konzipiert. Es verfügt über mehrere Befehlseingabemodi, einschließlich Joystick und externe Steuerung der Probenstufe, die ein präzises Probenmanöver ermöglichen. Das System umfasst auch automatisierte Funktionen wie Bildnähte, analytisches Scannen und eine leistungsfähige Verarbeitungssoftware. HITACHI S 4500 verfügt zudem über einen integrierten 1,2-Gigabyte-Speicher, der ausreichend Speicherplatz für gesammelte Daten bietet. S-4500 ist ein Ultrahochvakuum (UHV) SEM, das für präzise, hochauflösende Bildgebung entwickelt wurde. Es bietet eine ausgezeichnete Auflösung bis zu 0,6 Nanometer und bietet auch eine Echtzeit-Strahlausrichtung für eine präzise Probenanalyse. Das SEM verfügt über eine breite Palette von Detektoren und automatisierten Funktionen, um höchste Genauigkeit zu gewährleisten. Mit seiner vorjustierten Probenkammer, der automatisierten Probenein- und -entnahme und den Befehlseingabemodi ist S 4500 eine ausgezeichnete Wahl für präzise Rasterelektronenmikroskopie.