Gebraucht HITACHI S-4500 #9008633 zu verkaufen

ID: 9008633
SEM Cold Field Emission System Performance: Secondary electron image resolution: 1.5 nm at 15kv Magnification: 20x - 500kx Electron optics: Electron gun: cold field emmission source Lens type: electromagnetic Objective aperture: 4 position externally selectable Stigmator: octopole electromagnetic Scanning coil: 2-stage electromagnetic Sample chamber Size: type i Airlock: prepumped, max sample size:50 mm diameter Stage motion: 5 axis manual x/y: 25 mm, z: 3-28 mm, t: -5deg - +45 deg., r: 360 deg continuous Draw-out door: max sample size:150 mm dia. Size: type ii Airlock: prepumped, max sample size:100 mm or 150 mm diameter Stage motion: 5 axis manual X/y: 100mm/50 mm, z: 3-33 mm, t: -5 deg - +60 deg., r: 360 deg continuous Display system: Image display: dual 12" monitors Scanning mode: normal, reduced area , line scan, photo scan, spot position, split screen Scanning speed: tv, 0.3, 2, 9, 25, 35, 100, 160 320 s/frame vsignal processing:real-time processing, auto-brightness and contrast control, dynamic stigmator, sutofocus, a vframe averaging, frame integration, contrast conversion, Vacuum system: Full automatic operation with pneumatic valve control Ultimate vacuum: 10 (-7) pa in electron gun chamber, 10(-4) pa in specimen chamber Ion pump: 60 l/s x1, 20 l/s x2 Speciment chamber: dp (570 l/s); turbo optional Foreline: rotary pump x2 Accessories (optional) Edx:at 30 deg. Take off angle Digital image capturing: orion-6 software, optional Chilled water circulator: 10 - 20 deg c, 1.0 -1.5 l/m for dp only Installation Ac: single phase ac 220 or 240 volt, 50/60 hz Grounding: independent grounding 100 ohms or less.
HITACHI S-4500 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für fortgeschrittene Materialanalyse und Bildgebung entwickelt wurde. Diese Maschine ist in der Lage, ein hohes Maß an Detail zu erreichen, so dass es ideal für die Analyse in Bereichen wie Nanotechnologie und Biowissenschaft. HITACHI S 4500 verfügt über mehrere Schlüsselmerkmale, die es zu einem leistungsstarken Werkzeug für Forschung und Entwicklung machen. Zum einen verfügt das Mikroskop über eine Feldemissionselektronenquelle und ein elektrostatisches Linsensystem. Dieses System bietet ultrahochauflösende Bildgebung, so klein wie 0,4 nm für Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronenbildgebung. Darüber hinaus arbeitet S-4500 mit einer variablen Druckkammer, was bedeutet, dass der Elektronenstrahl und der Probenkammerdruck auf die idealen Werte eingestellt werden können, während die Ladeeffekte in Schach gehalten werden. Dies ermöglicht es, qualitativ hochwertige Bilder mit weniger Artefakten und genaueren Oberflächenmerkmalen zu erzeugen. Darüber hinaus ist das Mikroskop in der Lage, eine erweiterte Spektroskopie und Modalitätsabbildung zu ermöglichen. Es enthält Funktionen wie Energiedispersive Spektroskopie, Energiefilter Bildgebung, Röntgenmapping, Auger Spektroskopie und vieles mehr. Dies ermöglicht es, eine breite Palette von bildgebenden und spektroskopischen Behandlungen zu verwenden, was es zu einem großen Vorteil für die Materialwissenschaft und Forschung macht. Schließlich bietet S 4500 eine Vielzahl von Zubehör für verbesserte Bildqualität und höhere Auflösung Scannen. Zu den Optionen gehören BSE-Detektoren, eine Reihe von Objektivlinsen, ein sekundärer Elektronen-Backscatter-Detektor und eine Reihe von beschleunigenden Spannungsfiltern. Mit all diesen Komponenten an Ort und Stelle, der Benutzer kann leicht Feinabstimmung der Ausrüstung auf ihre Bedürfnisse. Dank seiner Eigenschaften ist HITACHI S-4500 ein leistungsfähiges Werkzeug für Forschung und Materialanalyse. Es ist in der Lage, selbst die kleinsten Merkmale mit großer Genauigkeit zu erkennen und abzubilden, während die Bandbreite der Spektroskopie und Modalität Bildgebung macht es eine unglaublich vielseitige Maschine. Mit dem zusätzlichen Zubehör kann HITACHI S 4500 für noch höhere Leistung angepasst werden, was es zu einem noch nützlicheren und zuverlässigeren Werkzeug macht.
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