Gebraucht HITACHI S-4500 #9073686 zu verkaufen

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ID: 9073686
Scanning electron microscope (SEM).
Das HITACHI S-4500 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein hochauflösendes Bildgebungsgerät, das sowohl für die Routine- als auch für die Forschungsmikroskopie entwickelt wurde. Mit seinen integrierten Analysefunktionen und der intuitiven Benutzeroberfläche ist es ein wesentliches Werkzeug für viele Anwendungen im Bereich Life Science und Materialwissenschaft. HITACHI S 4500 bietet neueste bildgebende und analytische Technologien, einschließlich Hochspannungs- und Sekundärelektronen (SE) -Bildgebung, rückgestreute Elektronen (BSE) -Bildgebung und energiedispersive Spektrometrie (EDS) mit dem X-Max-Nanodriftdetektor. Mit seiner Kombination aus schnellen Scangeschwindigkeiten und rauscharmen Betrieb liefert S-4500 exquisite Bilder und detaillierte Analysedaten. S 4500 verfügt auch über eine breite Palette von Feldwinkeln in seiner Klasse, so dass maximale Flexibilität für die Bildgebung und Mikroanalyse. Die Hochspannung bis zu 30kV und schnelle Beschleunigung/Verzögerung der Scangeschwindigkeit sorgen für eine verbesserte Leistung beim Erfassen von Bildern und Sammeln von Informationen von Oberflächen und Untergründen. HITACHI S-4500 ist mit einem CEOS AutoSE-Detektor ausgestattet, der ein ununterbrochenes Sichtfeld über große Objekte liefert, eine höhere Auflösung bei höherer Vergrößerung ermöglicht und das automatische Zurückziehen des Detektors während der Bildgebung eliminiert. Der Detektor verfügt über die höchste Effizienz eines Detektors in seiner Klasse, was zu schnellen Bildaufnahmezeiten führt. Für diejenigen, die die Möglichkeiten des HITACHI S 4500 über Bildgebung und Analyse hinaus erweitern möchten, ermöglicht der optionale EBSD-Modus (Electron Backscatter Diffraction) die Erfassung detaillierter Informationen zur Kristallstruktur und -orientierung. EBSD-Daten geben Einblick in Materialien wie nanopolykristalline Materialien wie dünne Folien und Legierungen sowie mehr kornorientierte polykristalline Materialien. Zusätzliches Zubehör für S-4500 umfasst einen Sekundärelektronendetektor (SE), einen STEM-Aufsatz, der eine breite Palette von Abtastvergrößerungen für die Bildgebung auf analytischer Ebene bietet, und eine Probenwärmestufe für die thermische Analyse. Zusammen bieten diese Optionen überlegene Leistung, Genauigkeit und Flexibilität für eine Vielzahl von Anwendungen. Insgesamt ist S 4500 eine All-in-One-Bildverarbeitungs- und Analyseplattform, die für jede Laborumgebung angepasst werden kann. Mit seiner Kombination aus hochauflösender Bildgebung, Analyse und Durchsatzfähigkeit bietet HITACHI S-4500 die Funktionen und Funktionen, die für benutzerfreundliche Materialien und Life-Science-Forschung erforderlich sind.
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