Gebraucht HITACHI S-4500 #9117358 zu verkaufen

ID: 9117358
Scanning electron microscope (SEM) Stage: semi-automatic OS: no.
HITACHI S-4500 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das verwendet wird, um Mikrographen verschiedener Materialien in hoher Auflösung zu erhalten, indem die Oberfläche der Probe mit einem fokussierten Elektronenstrahl abgetastet wird. Dieses Mikroskop ist sehr effizient und bietet eine Tiefe und Breite des Feldes, die es ermöglichen, Proben in ihrer Gesamtheit in einem Rahmen angezeigt werden. Neben der hochauflösenden Bildgebung ist HITACHI S 4500 auch zur EDX/SEM, chemischen Analyse der Probe sowie zur Partikelgrößenanalyse in der Lage. Das Äußere von S-4500 besteht hauptsächlich aus grauen und schwarzen Materialien, wodurch es robust und antistatisch ist. Die Basiseinheit, bestehend aus einem externen Spannungsregler und einer Antenne, ermöglicht eine sichere und maximale Leistung auch in entfernten Bereichen. Um den Komfort zu maximieren, verfügt die Hauptplatte des Mikroskops, die für diesen professionellen Look dunkelgrau beschichtet ist, über alle wichtigen Bedienelemente und Indikatoren, die bequem mit klaren Überschriften und Etiketten gekennzeichnet sind. S 4500 verbindet drei Schlüsseltechnologien, um höhere Bildqualität zu erzeugen: Bildaufbereitung des sekundären Elektrons (SE), Hochdruck backscattered Elektron (BSE) Bildaufbereitung und BSD/WDSED (Energie durchleuchten dispersive Spektroskopie / Wellenlänge dispersive Röntgenstrahlspektroskopie). SE-Bildgebung, die hauptsächlich für die Oberflächenanalyse verwendet wird, nutzt einen niedrigen Energiestrahl, um den Kontrast und die Auflösung zu erhöhen und gleichzeitig geringe Geräuschpegel zu erzeugen. Der Niedervakuumbetrieb macht es besonders ideal für biologische Proben und biologische Materialien. Darüber hinaus kann die BSE-Bildgebung mit ihrem energiereichen Elektronenstrahl verwendet werden, um hochdetaillierte dreidimensionale Mikrographen mit hoher Schärfentiefe und verbesserter Kontrastauflösung zu erhalten. Schließlich bieten EDX/SEM und WDS-ED eine elementare Zusammensetzungsanalyse einer Probe an. Das leistungsstarke HITACHI S-4500 Mikroskop eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen, von der Erkennung der Struktur einer Oberfläche über die Messung der Feinteilchengröße und -verteilung bis hin zur Prüfung von Spannungen in extrem kleinen Objekten und zur Erkennung von Schaltungsunregelmäßigkeiten in Halbleiterbauelementen. Aufgrund seiner universellen Anwendung und seiner Vielzahl von Funktionen ist das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S 4500 eine großartige Ergänzung für jedes Labor und kann Wissenschaftlern die detaillierten Bilder und Daten liefern, die für weitere Forschungsprojekte benötigt werden.
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