Gebraucht HITACHI S-4500 #9137332 zu verkaufen

HITACHI S-4500 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich ideal für eine Vielzahl von Anwendungen in der industriellen Forschung, Qualitätskontrolle und Fehleranalyse eignet. Es kombiniert hochauflösende Bildgebung, einfach zu bedienende Bedienung und hervorragende Probenvorbereitungsfunktionen, was es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen macht. HITACHI S 4500 verwendet eine Reihe von Elektronenstrahlquellen, einschließlich einer Wolfram-Pistole, einer beheizten Kaltfeld-Emissionskanone, einer Filsup-Pistole und einer Mikrofeld-Emissionskanone, um eine Reihe von Bildgebungsoptionen bereitzustellen, einschließlich eines Zweistrahl-Bildgebungsmodus. Dieser Zweistrahl-Abbildungsmodus ermöglicht die Aufnahme von Bildern mit hoher Auflösung ohne die Notwendigkeit mehrerer Elektronenstrahlquellen, was es extrem effizient und kostengünstig macht. Das SEM bietet auch eine Reihe von Vergrößerungen von 10x bis 500.000x, die detaillierte Studien über kristalline Strukturen, Oberflächen und Materialeigenschaften ermöglichen. S-4500 enthält auch eine Reihe von Merkmalen, um die Probenuntersuchung zu erleichtern. Ein Touch-Panel-Steuergerät ermöglicht eine einfache Bedienung, während ein automatisiertes Probenaustauschsystem das schnelle Umschalten zwischen Proben ermöglicht. Auch automatisierte Oberflächenbeschichtungen, Elektronenstrahlbeschichtungen und Ionenstrahlbeschichtungssysteme ermöglichen die Beschichtung einer Vielzahl von Proben für die SEM-Analyse. Zusätzlich schließt S 4500 eine breite Reihe des Entdeckers und der darstellenden Hilfe, einschließlich einer fortgeschrittenen Autokorrelationsentdeckungseinheit, Zeit des Flugs sekundäre Ionsmassenspektrometrie (TOF-SIMS) und eine Kryobühne ein, mehr eingehende Analyse von Proben berücksichtigend. HITACHI S-4500 ist mit einer Reihe fortschrittlicher Softwarepakete ausgestattet, die eine automatisierte Analyse und Messung von Proben ermöglichen. Dazu gehören eine 3D-Messmaschine, ein Neutronen-Mapping-Tool und ein Röntgenbild-Asset, das eine schnelle und genaue Erkennung und Messung von Merkmalen in einer Probe ermöglicht. Darüber hinaus ist das SEM mit einer Reihe von Zusatzsystemen zur Optimierung der bildgebenden und analytischen Leistung des Modells ausgestattet. Diese schließen eine eingebaute Hochleistungsvibrationsisolierungsausrüstung, eine HDTV-Kamera und einen EDSentdecker ein, einen stromlinienförmigen Arbeitsablauf berücksichtigend. Abschließend ist HITACHI S 4500 ein sehr vielseitiges und fähiges SEM, das sich für eine Reihe von Forschungs- und Industrieanwendungen eignet. Das Spektrum an Elektronenstrahlquellen, Bildgebungs- und Messsystemen sowie die automatische Probenvorbereitung und Austauschfunktionen machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Anforderungen an die Rasterelektronenmikroskopie.