Gebraucht HITACHI S-4500 #9169489 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9169489
Scanning electron microscope (SEM)
Specifications:
Photo CRT:
Ultra high resolution type
Recording area: 120 x 90 mm
Scanning mode:
Normal scan
Split screen / Dual magnification
Line scan
Position setting
Spot
AAF (Analysis area finder)
SAA (Selected area analysis)
Oblique mode
Scanning speed:
0.3, 2, 10, 20 S / Frame for viewing mode
TV, 40,80, 160 S / Frame for photo recording mode
Signal processing / Operation mode:
Automatic brightness & contrast control
Gamma control
Dynamic stigmator monitor
Auto focus
Automatic stigmator
Electrical image shift: ± 20 µm With WD 20 mm
Vacuum system:
Vacuum sequence: Full-auto pneumatic valve system
Ultimate vacuum:
7 x 10-4 Pa (Specimen chamber)
1 x 10-7 Pa (Electron gun chamber)
Vacuum pumps:
Electron optics: (3) Ion pumps
Specimen chamber:
(1) Diffusion pump
(2) Rotary pumps
Compressor
Ion pumps:
IP1= 0.1 x 10-7
IP2= 0.5 x 10-7
IP3= 6 x 10-7
Accessories:
THERMO-SCIENTIFIC EDS Tank
EDS Computer / Controller: No
GW Microchannel:
Control
Detector: No
GW Infrared: Camera control and camera on system
Control panel on SEM
Small manual stage
Performance:
Resolution: 1.5 nm
Accelerating voltage: 30 kV
Working distance: 7 mm
Magnification:
High magnification mode: 50x to 500,000x
Low magnification mode: 20x to 1,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold-cathode field emission electron gun
Emission extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (Variable in 100 V step)
Lens system: 3-Stage electromagnetic lens
Objective aperture:
Movable aperture ((4) Opening selectable / Alignable outside column)
Self-cleaning type thin aperture
Stigmator: Electromagnetic type
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type
Display unit:
CRT: (2) 12" Display monitors including memory unit.
HITACHI S-4500 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für die Abbildung der Oberfläche einer Vielzahl von Proben, von großen Proben bis zu kleinen Mikrostrukturen, entwickelt wurde. Mit einer maximalen Vergrößerung von 270.000x und einer ultra-hohen Auflösung von 0,7 nm ist HITACHI S 4500 in der Lage, die große Menge an Details in einer einzigen Probe aufzudecken. S-4500 verwendet eine semi-apochromatische Objektivlinse, bestehend aus zwei Halbkugelblasenlinsen und einer Projektionslinse, um den hochenergetischen Elektronenstrahl auf einen feinen Punkt zu fokussieren. Der Strahl wird in einem Rastermuster über die Probe abgetastet und Elektronen, die von der Probenoberfläche reflektiert wurden, in einem Elektronendetektor gesammelt. Diese Elektronen werden dann in ein digitales Bild umgewandelt, das zur Konstruktion einer 3D-Darstellung der Probenoberfläche dient. S 4500 verfügt zudem über eine automatisierte integrierte Mess- und Bildverarbeitungsfunktion, mit der Messungen direkt aus den erzeugten Bildern vorgenommen werden können. Dies ermöglicht die quantitative Analyse von Proben einschließlich physikalischer Messungen und elektrischer Charakterisierungen. Diese Messungen sind entscheidend für eine Vielzahl von Branchen und Forschungsanwendungen. HITACHI S-4500 verfügt über eine Vakuum-Umweltkammer, so dass sie mit Proben verwendet werden kann, die unter Vakuumbedingungen untersucht werden müssen. Dies ist besonders wichtig für die Untersuchung von Proben wie biologischem Gewebe und Halbleiterbauelementen. Das SEM enthält außerdem ein automatisiertes Probenaustauschsystem, mit dem Proben schnell und effizient gewechselt werden können, ohne Vakuum zu brechen. HITACHI S 4500 produziert sehr detaillierte Bilder, die es Wissenschaftlern und Ingenieuren ermöglichen, die Oberfläche einer beliebigen Probe detailliert zu untersuchen. Damit können sie Fehler analysieren und identifizieren, die Materialzusammensetzung analysieren und einen besseren Einblick in die Mikrostrukturen verschiedener Komponenten und Produkte gewinnen. Als solches ist S-4500 von HITACHI ein wertvolles Werkzeug für viele Branchen, von der Automobiltechnik über die Mikroelektronik bis hin zur Materialwissenschaft und Bio-Imaging.
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