Gebraucht HITACHI S-4500 #9169489 zu verkaufen

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ID: 9169489
Scanning electron microscope (SEM) Specifications: Photo CRT: Ultra high resolution type Recording area: 120 x 90 mm Scanning mode: Normal scan Split screen / Dual magnification Line scan Position setting Spot AAF (Analysis area finder) SAA (Selected area analysis) Oblique mode Scanning speed: 0.3, 2, 10, 20 S / Frame for viewing mode TV, 40,80, 160 S / Frame for photo recording mode Signal processing / Operation mode: Automatic brightness & contrast control Gamma control Dynamic stigmator monitor Auto focus Automatic stigmator Electrical image shift: ± 20 µm With WD 20 mm Vacuum system: Vacuum sequence: Full-auto pneumatic valve system Ultimate vacuum: 7 x 10-4 Pa (Specimen chamber) 1 x 10-7 Pa (Electron gun chamber) Vacuum pumps: Electron optics: (3) Ion pumps Specimen chamber: (1) Diffusion pump (2) Rotary pumps Compressor Ion pumps: IP1= 0.1 x 10-7 IP2= 0.5 x 10-7 IP3= 6 x 10-7 Accessories: THERMO-SCIENTIFIC EDS Tank EDS Computer / Controller: No GW Microchannel: Control Detector: No GW Infrared: Camera control and camera on system Control panel on SEM Small manual stage Performance: Resolution: 1.5 nm Accelerating voltage: 30 kV Working distance: 7 mm Magnification: High magnification mode: 50x to 500,000x Low magnification mode: 20x to 1,000x Electron optics: Electron gun: Cold-cathode field emission electron gun Emission extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (Variable in 100 V step) Lens system: 3-Stage electromagnetic lens Objective aperture: Movable aperture ((4) Opening selectable / Alignable outside column) Self-cleaning type thin aperture Stigmator: Electromagnetic type Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type Display unit: CRT: (2) 12" Display monitors including memory unit.
HITACHI S-4500 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für die Abbildung der Oberfläche einer Vielzahl von Proben, von großen Proben bis zu kleinen Mikrostrukturen, entwickelt wurde. Mit einer maximalen Vergrößerung von 270.000x und einer ultra-hohen Auflösung von 0,7 nm ist HITACHI S 4500 in der Lage, die große Menge an Details in einer einzigen Probe aufzudecken. S-4500 verwendet eine semi-apochromatische Objektivlinse, bestehend aus zwei Halbkugelblasenlinsen und einer Projektionslinse, um den hochenergetischen Elektronenstrahl auf einen feinen Punkt zu fokussieren. Der Strahl wird in einem Rastermuster über die Probe abgetastet und Elektronen, die von der Probenoberfläche reflektiert wurden, in einem Elektronendetektor gesammelt. Diese Elektronen werden dann in ein digitales Bild umgewandelt, das zur Konstruktion einer 3D-Darstellung der Probenoberfläche dient. S 4500 verfügt zudem über eine automatisierte integrierte Mess- und Bildverarbeitungsfunktion, mit der Messungen direkt aus den erzeugten Bildern vorgenommen werden können. Dies ermöglicht die quantitative Analyse von Proben einschließlich physikalischer Messungen und elektrischer Charakterisierungen. Diese Messungen sind entscheidend für eine Vielzahl von Branchen und Forschungsanwendungen. HITACHI S-4500 verfügt über eine Vakuum-Umweltkammer, so dass sie mit Proben verwendet werden kann, die unter Vakuumbedingungen untersucht werden müssen. Dies ist besonders wichtig für die Untersuchung von Proben wie biologischem Gewebe und Halbleiterbauelementen. Das SEM enthält außerdem ein automatisiertes Probenaustauschsystem, mit dem Proben schnell und effizient gewechselt werden können, ohne Vakuum zu brechen. HITACHI S 4500 produziert sehr detaillierte Bilder, die es Wissenschaftlern und Ingenieuren ermöglichen, die Oberfläche einer beliebigen Probe detailliert zu untersuchen. Damit können sie Fehler analysieren und identifizieren, die Materialzusammensetzung analysieren und einen besseren Einblick in die Mikrostrukturen verschiedener Komponenten und Produkte gewinnen. Als solches ist S-4500 von HITACHI ein wertvolles Werkzeug für viele Branchen, von der Automobiltechnik über die Mikroelektronik bis hin zur Materialwissenschaft und Bio-Imaging.
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