Gebraucht HITACHI S-4500 #9183139 zu verkaufen

HITACHI S-4500 Scanning Electron Microscope (SEM) nutzt Elektronenoptik und digitale Bildgebungstechnologie, um zerstörungsfreie Untersuchungen von Oberflächen und Massenproben mit hoher Genauigkeit und Auflösung durchzuführen. Das Instrument ist in der Lage, eine breite Palette von Mustergrößen von 1mm bis 300mm Höhe mit Feuchtigkeit und gasdichten Systemen aufzunehmen. HITACHI S 4500 verwendet eine Elektronenkanone, um einen Elektronenstrahl zu erzeugen, der auf die Probenoberfläche trifft. Die Wechselwirkung zwischen der Probenoberfläche und dem auftreffenden Elektronenstrahl erzeugt Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen und Röntgenstrahlen, die wiederum detektiert und verstärkt werden. Die detektierten Signale werden dann verarbeitet, um ein Bild der Oberfläche der Probe und ihrer Zusammensetzung zu erzeugen. S-4500 verfügt über modernisierte Bildgebungstechnologie, einschließlich Multi-Image-Erzeugung, automatische Ausrichtung und Bildfusion, die eine schnelle Bildaufnahme mit höherer Auflösung und größerer Präzision als herkömmliche SEMs ermöglicht. Diese Technologie ermöglicht auch den Einsatz von 3D-Imaging und Mapping. Neben seinen bildgebenden Fähigkeiten liefert S 4500 auch eine genaue Elementaranalyse von Proben. Das Instrument misst die Atomzahl, den Atomanteil und die Elementkonzentration der Probe. Es kann auch das Vorhandensein von nichtleitenden Materialien durch Verwendung einer nichtleitenden Feldemissionsabtastelektronenkanone (FESEM) detektieren. Schließlich wird HITACHI S-4500 mit einem großen Angebot an der Bildaufbereitung und den analytischen Werkzeugen, einschließlich der Röntgenstrahlmikroanalyse, Elektronfeldemissionsoberflächenanalyse ausgestattet, und Elektronbalken hat aktuelle Bildaufbereitung veranlasst, die verwendet werden kann, um bei Inspektionen und Qualitätssicherungsprozessen zu helfen. Das Instrument enthält auch eine Vielzahl von Sicherheitsmaßnahmen wie ein automatisiertes Verriegelungssystem und ein Laserwarnsystem. HITACHI S 4500 Scanning Electron Microscope ist ein zuverlässiges, benutzerfreundliches und vielseitiges Instrument, das für eine Vielzahl von Anwendungen von mikroskopischen Studien bis hin zu industriellen Inspektionen eingesetzt werden kann. Die Kombination aus bildgebenden und analytischen Fähigkeiten macht S-4500 zu einem wertvollen Instrument für Prüfung, Qualitätssicherung und Forschung.