Gebraucht HITACHI S-4500 #9202782 zu verkaufen

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ID: 9202782
Scanning Electron Microscope (SEM) No EDS Ion pump gauges are non-functional.
HITACHI S-4500 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein weit verbreitetes und vielseitig einsetzbares Instrument zur Bildgebung und Analyse von Materialien auf Nanoskala. Das Gerät nutzt einen energiereichen, fokussierten Elektronenstrahl, um interessierende Bereiche in der Probe zu erfassen und ein Bild zu erzeugen. HITACHI S 4500 ist in der Lage, Proben mit einer Auflösung von bis zu 1 Nanometer (nm) zu scannen oder abzubilden und enthält ein einstellbares Vergrößerungsmerkmal zwischen 5X und 800,000X. Das SEM verwendet eine Hochspannungs-Elektronenkanone, um einen konzentrierten Elektronenstrahl zu erzeugen, der in Größe und Intensität eingestellt werden kann, um ein hochauflösendes Bild zu liefern. S-4500 ist mit einer neu entwickelten ZEEnith rauscharmen Elektronenoptik ausgestattet, die das Bildrauschen deutlich reduziert und auch bei hohen Vergrößerungen klare Bilder von Proben liefert. Zusätzlich ist das Gerät mit einem mehrkanaligen Elektronendetektor ausgestattet, der ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis und einen hohen Bildkontrast bietet. Das Gerät umfasst auch eine Reihe von eingebauten Probenstufen für Heizung, Kühlung und Vibration und kann für eine Vielzahl von Anwendungsanforderungen verwendet werden. Neben der traditionellen topographischen Bildgebung bietet S 4500 SEM viele fortgeschrittene Bildverarbeitungsmodi für spezialisierte Anwendungen. Rückgestreute Elektronenbilder eignen sich zur Charakterisierung der mechanischen, elektronischen und topographischen Eigenschaften von Materialien mit einer Auflösung von bis zu 50 nm. Energy Dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) ist ebenfalls enthalten und eignet sich für die elementare Analyse von Proben mit einer Auflösung von bis zu 1 nm. HITACHI S-4500 wurde entwickelt, um einen hohen Automatisierungsgrad zu ermöglichen, um eine genaue, effiziente und optimierte Probenanalyse zu gewährleisten. Für den automatisierten Betrieb stehen verschiedene Softwareoptionen zur Verfügung, wie FeatureFinder, der verschiedene Texturbereiche identifizieren kann, und Automap Autostage, was die Mustererkennung vereinfacht. Zusammenfassend ist HITACHI S 4500 Scanning Electron Microscope ein leistungsfähiges und anspruchsvolles Werkzeug, das hochauflösende Bilder erzeugen und eine fortschrittliche Analyse von Materialien auf Nanoskala durchführen kann. Seine ausgezeichneten bildgebenden Fähigkeiten und seine Vielzahl an erweiterten Betriebsarten machen es zur perfekten Wahl für eine breite Palette von Rasterelektronenmikroskopie-Anwendungen.
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