Gebraucht HITACHI S-4500 #9235002 zu verkaufen

HITACHI S-4500 Rasterelektronenmikroskop ist ein vielseitiges Werkzeug zur Bildgebung und Charakterisierung einer Vielzahl von Proben und Materialien. Dieses SEM ist eine ausgezeichnete Wahl für routinemäßige Bildgebung, Fehleranalyseaufgaben und vieles mehr. HITACHI S 4500 verfügt über einen hochauflösenden Rasterelektronendetektor sowie einen Rückstreudetektor. Die Kombination dieser beiden Detektoren ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung und Materialanalyse verschiedener Proben. S-4500 hat auch zwei Hochvergrößerungslinsen (bis zu 100kX), die ihm extrem hochauflösende Bilder geben. Zusätzlich bietet das Twin-Linsensystem simultane Bildgebungs- und Spektralanalysen. Das Instrument verwendet eine Feldemissionskanone (FEG), eine Art Elektronenquelle, die die durch einen Elektronenstrahl erzeugten Artefakte minimiert und eine hochauflösende Abbildung und feines Detail ermöglicht. Es verfügt über einen robusten, kraftrückgekoppelten Strahlablenker, der es dem Instrument ermöglicht, reibungslos über große Probenflächen zu manövrieren. Das Ablenksystem ermöglicht auch S 4500, viele verschiedene bildgebende Techniken durchzuführen. HITACHI S-4500 verfügt über eine breite Palette unabhängiger Detektorköpfe, wodurch zusätzliche Detektoren zur Erhöhung der Empfindlichkeit, des Kontrastes und der Auflösung hinzugefügt werden können. Es verfügt auch über automatisierte Bühnenfunktionen und visuelle Probennavigation. HITACHI S 4500 kann mit einer Vielzahl von Zubehörteilen integriert werden, einschließlich eines Kryohalters für die Bildgebung bei niedrigen Temperaturen und eines Probendrehers für die 3D-Bildgebung. S-4500 ist sehr kostengünstig, mit ausgezeichneter Bildqualität und schneller Bildgebungsgeschwindigkeit. Es ist ein zuverlässiges, einfach zu bedienendes Instrument, das sowohl für routinemäßige Bildgebungs- als auch für Fehleranalyseaufgaben verwendet werden kann. Es bietet auch hervorragende Unterstützung für 3D-Bildgebung und Elementaranalyse, so dass der Benutzer einen tieferen Einblick in das Probenmaterial zu gewinnen.