Gebraucht HITACHI S-4500 #9352578 zu verkaufen

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ID: 9352578
Wafergröße: 4"
Scanning Electron Microscope (SEM), 4" SE and Backscatter detectors No EDS Main body Display Pump Monitor, 19" Core i3 processor Operating system: Windows XP Professional Power supply.
HITACHI S-4500 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, mit dem eine Vielzahl von Forschungsprojekten durchgeführt wird. Es hat eine extrem hohe Auflösung und kann Bilder mit einem Detailgrad erzeugen, der bisher nicht zu erreichen war. Das Mikroskop arbeitet mit einem Elektronenstrahl, um eine Probe abzutasten, wodurch die Elektronen mit den Probenatomen interagieren, um ihre Eigenschaften zu analysieren. HITACHI S 4500 ist mit einer Kaltfeld-Emissionskanone ausgestattet, die einen hellen und stabilen Elektronenstrahl liefert, ohne die Auflösung der Bilder zu verringern. Das Mikroskop verfügt auch über eine vielseitige Steuerungssoftware, die eine Vielzahl von Bildgebungstechniken wie Backscatter-Bildgebung, sekundäre Elektronenbildgebung und Rasterübertragungselektronenmikroskopie ermöglicht. Darüber hinaus kann die Software zur Durchführung von Analysen wie Messung der Größe, Form und Orientierung von Partikeln verwendet werden. S-4500 verfügt auch über einen eingebauten Sputter-Coater, mit dem dünne Filme hergestellt werden können, die für eine Vielzahl von bildgebenden Verfahren geeignet sind. Das Mikroskop ist auch mit einem Vakuumsystem ausgestattet, das die Erzeugung einer Ultrahochvakuumumgebung ermöglicht, um die beste Bildqualität zu gewährleisten. Das Mikroskop ist außerdem mit einer Kippstufe ausgestattet, mit der Proben aus beliebigen Winkeln analysiert werden können. Der Neigungsbereich der Bühne beträgt bis zu 55 Grad. Zusätzlich ist S 4500 mit einer hochempfindlichen Digitalkamera ausgestattet, die sehr lebendige Bilder erzeugen kann. Mit seiner hohen Auflösung und einem breiten Spektrum an bildgebenden Verfahren ist HITACHI S-4500 ein ideales Mikroskop für die Durchführung von Forschungsprojekten. Es ist ein unschätzbares Werkzeug für die Untersuchung von Materialien und Komponenten auf Nanometer- und Mikroskalenebene, so dass Forscher ein Verständnis ihrer Eigenschaften erlangen können, die bisher unmöglich waren.
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