Gebraucht HITACHI S-4500 #95678 zu verkaufen
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ID: 95678
Wafergröße: 2"
Weinlese: 1994
Scanning Electron Microscope (SEM), 2”
Performance:
Secondary electron image resolution: 1.5 nm at 15kv
Magnification: 20X - 500KX
Electron Optics:
Electron gun: Cold field emmission source
Lens type: electromagnetic
Objective aperture: 4 position externally selectable
Stigmator: Octopole electromagnetic
Scanning coil: 2-stage electromagnetic
Size: Type I
Airlock: prepumped, max sample size:50 mm diameter
Stage motion: 5 axis manual
X/Y: 25 mm, Z: 3-28 mm, T: -5Deg - +45 Deg., R: 360 deg continuous
Draw-out door: Max sample size:150 mm dia.
Display system:
Image display: Dual 12" monitors
Scanning mode: Normal, reduced area , line scan, photo scan, spot position, split screen
Scanning speed: TV, 0.3, 2, 9, 25, 35, 100, 160 320 s/frame
Signal processing:Real-time processing, auto-brightness and contrast control, dynamic stigmator, sutofocus, a Frame averaging, frame integration, contrast conversion,
Vacuum system:
Full automatic operation with pneumatic valve control
Ultimate vacuum: 10 (-7) Pa in electron gun chamber, 10(-4) Pa in specimen chamber
Ion pump: 60 L/s X1, 20 L/s X2
Speciment chamber: DP (570 L/s); Turbo Optional
Foreline: Rotary pump X2
Accessories (Optional)
EDX:at 30 Deg. take off angle
Digital Image capturing: Orion-6 software, Optional
Chilled water circulator: 10 - 20 deg C, 1.0 -1.5 L/m for DP only
Installation
AC: Single phase AC 220 or 240 volt, 50/60 Hz
Grounding: Independent grounding 100 Ohms or less
Currently powered-up
1994 vintage.
HITACHI S-4500 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das für die fortgeschrittene Materialanalyse entwickelt wurde. Dieses Instrument ist mit fortschrittlicher Technologie ausgestattet, einschließlich einer Kaltfeld-Emissionskanone, Hochspannungsnetzteilen und digitalen Bildgebungsgeräten. HITACHI S 4500 bietet eine hohe Auflösung für die Beobachtung und Abbildung von Proben mit sekundären oder rückgestreuten Elektronen. Die Kaltfeld-Emissionspistole bietet extrem stabile Leistung und ermöglicht einen schnelleren Betrieb. Es ermöglicht auch eine hochauflösende Vergrößerung von Proben bis zu 30 Fräszeiten. Dieses Mikroskop hat eine hohe Hintergrundabstoßungsrate und niedrige Bestrahlungswerte, was den Probenschaden reduziert. Die Hochspannungsnetzteile bieten ein verbessertes Benutzererlebnis und Stabilität in den anspruchsvollsten SEM-Anwendungen. Die Spannungsversorgungen können mit der Kaltfeld-Emissionskanone abgestimmt werden, um die höchste Leistung zu liefern. Das digitale Bildgebungssystem ermöglicht es Benutzern, das vergrößerte Probenbild auf einem digitalen Videorecorder oder Personalcomputer zu erfassen, indem es mit einer Bildaufnahmekarte verbunden wird. Bilder werden auf einem 19-Zoll-TFT-Monitor angezeigt und bieten eine verbesserte Sichtbarkeit und Komfort. Die digitale Bildverarbeitungseinheit ermöglicht auch eine Echtzeit-Bildverwaltung, Manipulation und Speicherung für die spätere Verwendung. S-4500 scannt Samples in mehreren Winkeln, um den Kontrast und die Textur im Beispielbild zu verbessern. Darüber hinaus ist es mit fortschrittlichen Automatisierungswerkzeugen ausgestattet, einschließlich Autofokus, um optimale Bildgebungsergebnisse bei jeder Vergrößerung zu erzielen. Die computergestützte Tuning-Funktion kann Parameter für das hellste und klarste Bild der Probe automatisch erkennen und anpassen. Für maximale Sicherheit wird S 4500 mit einer geschlossenen Maschine gebaut und mit ESD-Schutz versehen. Es hat auch eine Reihe von Sicherheitsmerkmalen, einschließlich einer Strahlungsanzeige und einer automatischen Abschaltfunktion bei Gefahren.
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