Gebraucht HITACHI S-4700 II #293592008 zu verkaufen

HITACHI S-4700 II ist ein erstklassiges Rasterelektronenmikroskop, das leistungsstarke bildgebende Funktionen für eine Vielzahl von Anwendungen bietet. Es bietet eine hohe Genauigkeit und Auflösung, die eine detaillierte Visualisierung von Objekten auf nanoskaliger Ebene ermöglicht. HITACHI S 4700 II verwendet einen oben montierten Differential-In-Linsen-Detektor, der eine qualitativ hochwertige Sammlung von Sekundärelektronen (SE), Rückstreuelektronen (BSE) und Transmissionselektronen (TE) der Oberflächen der Probe ermöglicht. Es verfügt über eine doppelt geneigte Probenstufe mit einem Neigungsbereich von +/- 60 Grad, die Flexibilität bei der Abbildung von Proben ermöglicht, die nicht planar sind. Es bietet auch ein motorisiertes Fokuslaufwerk, mit dem Benutzer den Fokus der Bilder ohne direkte Benutzerinteraktion automatisch anpassen können. S-4700-II bietet eine Reihe von Bildverarbeitungsfunktionen wie Echtzeit-Bildnähte, Montagen, automatisierte Partikelanalyse und vieles mehr. Es bietet auch eine breite Palette von Automatisierungsfunktionen, einschließlich Fernzugriff, automatisierte Erfassung mehrerer Bilder und die Möglichkeit, S 4700-II Einheiten für Remote-Operationen miteinander zu verbinden. S 4700 II verwendet eine Open-Source-Workflow-Anwendung, AllView, mit der Benutzer große Datensätze einfach verwalten, analysieren und archivieren können. AllView ermöglicht es Benutzern, mit Bildern zu interagieren, Berichte zu erstellen und Daten unter Benutzern auszutauschen, um ein detailliertes Verständnis der Probe und des Musters zu ermöglichen. In Verbindung mit seinen fortschrittlichen Scan-, Bildverarbeitungs- und Verarbeitungsfunktionen ist HITACHI S 4700-II ein unschätzbares Werkzeug für die Forschung in den Bereichen Nanotechnologie, Materialwissenschaft und Biotechnologie mit Möglichkeiten, Proben von Einzelzellen bis hin zu komplexen Strukturen und Materialien abzubilden. HITACHI S-4700-II bietet Forschern ein unglaublich leistungsfähiges und benutzerfreundliches Tool, um Proben auf höchstem Niveau der Genauigkeit und Auflösung abzubilden und zu analysieren.