Gebraucht HITACHI S-4700 II #293605918 zu verkaufen

ID: 293605918
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4700 II ist ein Modell des Rasterelektronenmikroskops (SEM). Es ist ein leistungsstarkes Instrument, das im Bereich der Materialanalyse eingesetzt wird. HITACHI S 4700 II bietet eine Vielzahl von Funktionen, die es ideal für eine Reihe von Anwendungen wie Probenbeobachtung, Oberflächenzusammensetzungsanalyse, Elementaranalyse und Bildgebung machen. S-4700-II verfügt über eine variable Druckkammer, die es ermöglicht, die SEM-Bildgebung unter Hochvakuum oder variablem Druck durchzuführen, so dass Benutzer nasse oder lose Proben am Instrument untersuchen können. Es verfügt auch über eine Peltier-Element-Kühlstufe mit einem Temperaturbereich von - 80˚C bis 100˚C. Dies ermöglicht die Erfassung von Bildern von Proben bei unterschiedlichen Temperaturen, ohne sie auf eine andere Stufe übertragen zu müssen. Das Gerät verfügt auch über einen hochauflösenden Detektor für hochauflösende Bildgebung und Elementaranalyse. Sein sekundärer Elektronendetektor (Niedervakuum) verfügt über ein großes Sichtfeld und eignet sich somit ideal für die großflächige Bildgebung und Elementaranalyse. S 4700-II verfügt über ein hochpräzises Motorsystem, das eine beeindruckende Stabilität und Genauigkeit bietet und die Aufnahme von Bildern mit der höchstmöglichen Auflösung ermöglicht. Es ist mit einer Reihe von automatisierten Stufen und Funktionen ausgestattet, so dass Benutzer das Instrument schnell einrichten und die Analyse mit Leichtigkeit durchführen können. Das Instrument wird mit einer Reihe von Software-Tools geliefert, um die Beobachtung und Analyse von Proben zu erleichtern. Neben dem Standard-Scanmodus bietet S 4700 II verschiedene erweiterte Funktionen wie Energy Dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) für die Elementaranalyse, Back Scatter Electron Imaging (BSEI) für die Bildgebung von niedrigen Z-Elementen sowie In-Linsen und In sen. Abschließend ist HITACHI S 4700-II ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine Reihe von Merkmalen und Fähigkeiten bietet, die es ideal für eine Reihe von Anwendungen in der Materialanalyse machen. Es verfügt über eine variable Druckkammer und eine Kühlstufe des Peltier-Elements sowie hochauflösende Detektoren und Softwarewerkzeuge zur Erleichterung der Probenbeobachtung und -analyse. Das Instrument ist mit einem hochpräzisen Motorsystem ausgestattet, das eine ausgezeichnete Stabilität und Genauigkeit bietet. Es ist eine ideale Wahl für Forscher und Wissenschaftler auf der Suche nach einem anspruchsvollen Instrument, das hochwertige Bilder und zuverlässige Daten bieten kann.
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