Gebraucht HITACHI S-4700 II #293814500 zu verkaufen

HITACHI S-4700 II ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene Mikroskopieanwendungen. Zu den Hauptmerkmalen des Mikroskops gehören eine integrierte Bildaufnahmeausrüstung, eine überlegene Energieauflösung, hochauflösende Bildgebung bis zu × 3000, ein breites Magnetfeld, Hochspannungsoptik, Hochspannungsindex (HVI) -Fähigkeit für hochauflösende Bildgebung und ein einzigartiger Visual Form Design. Darüber hinaus optimiert die Kombination des Visual Form Designs mit einem innovativen „Nanowise“ -System die bildgebenden Fähigkeiten des Mikroskops. Die integrierte Bildaufnahmeeinheit von HITACHI S 4700 II bietet hochauflösende Bildaufnahmen und leistungsstarke Bildverarbeitungsfunktionen. Es verwendet zwei Arten von Detektoren, den Elektronendetektor und den visuellen Formendetektor. Der Elektronendetektor ist ideal für die Abbildung feiner Strukturen, während der visuelle Formendetektor die Visualisierung großer Strukturen ermöglicht. Mit der Hochspannungsoptik können Bilder höherer Auflösung erreicht werden. Das breite Magnetfeld ermöglicht es dem Benutzer, eine größere Fläche anzuzeigen. Der Hochspannungsindex (HVI) in S-4700-II bietet hochauflösende Bilder bis zu × 3000. Dadurch kann der Anwender auch kleinste Details in einer Probe beobachten und unterscheiden. Mit dieser Funktion kann der Benutzer die Spannungs- und Stromeinstellungen für verschiedene Proben anpassen und die besten Ergebnisse erzielen. Die „Nanowise“ -Maschine verbessert die bildgebenden Fähigkeiten des Mikroskops weiter, indem sie erweiterte Bildanalysefunktionen bereitstellt. Entwickelt mit einem einzigartigen und benutzerfreundlichen Visual Form Design (VFD) Detektor verfügt S 4700-II über ein intuitives Display, mit dem Benutzer problemlos vom Elektronendetektor zum VFD wechseln können. Der VFD-Detektor verarbeitet und verbessert Bilder, so dass der Benutzer die Bilder leichter interpretieren kann. Darüber hinaus reduzieren die erweiterten Verarbeitungsfunktionen der VFD das Bildrauschen, wodurch Bilder klarer betrachtet werden können. Abschließend ist HITACHI S-4700-II ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop, das für fortgeschrittene Mikroskopieanwendungen entwickelt wurde. Es integriert ein Bildaufnahmewerkzeug, eine überlegene Energieauflösung, hochauflösende Bilder bis zu × 3000, ein breites magnetisches Sichtfeld, Hochspannungsoptiken, Hochspannungsindex (HVI) -Funktionen für hochauflösende Bilder und einen einzigartigen Visual Form Design (VFD) -Detektor. Darüber hinaus verbessert die Kombination von Visual Form Design und Nanowise die bildgebenden Fähigkeiten des Mikroskops. HITACHI S 4700-II bietet hervorragende Leistungen, die es zu einer idealen Wahl für Wissenschaftler und Forscher in einer Vielzahl von Bereichen machen.