Gebraucht HITACHI S-4700 II #9177296 zu verkaufen
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ID: 9177296
Field emission scanning electron microscope
Main unit :
Fe tip: HITACHI FE Tip (Vext 4.7)
(4) Barion ion pumps
Turbo pump: BOC EDWARDS STP 301H
Stage: Type 2 (5 Axes motor )
Software version: 2.02
(2) SE Detectors
Ion pump power: HITACHI Electron
Display unit :
Monitor: LG LCD, 19"
HP COMPAQ Deskpro computer
HITACHI Image control panel
HP 101 Key board (English)
Software: HITACHI PC Sem operation part Ver. 2.0
Windows 95
Utility :
(2) HITACHI Rotary pumps
Auto transformer (Type: 4F500-648)
Capacity: 7 Kva
(2) Pumping hoses.
Das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S-4700 II ist ein Hochleistungsinstrument, das in der Lage ist, detaillierte Bilder von Proben für Forschung und industrielle Anwendungen zu erstellen. Es wurde entwickelt, um hochauflösende Bildgebung zu liefern und gleichzeitig eine flexible und benutzerfreundliche Bedienung zu gewährleisten. Das Gerät bietet mehrere erweiterte Bildgebungsoptionen, einschließlich sekundärer Elektronenbildgebung, rückgestreuter Elektronenbildgebung und sekundärer Elektronenbildgebung in der Linse. Es verwendet eine hochempfindliche, direkte Erkennungskamera, um hochauflösende Bilder bis zu 0,7 nm zu unterstützen. Darüber hinaus umfasst das System eine integrierte Energiefiltereinheit mit einem Bereich von 30 bis 200 eV. Die Maschine verfügt auch über ein fortschrittliches Stufensteuergerät mit einer dreiachsigen Probenstufe mit einem 3-mm-Bewegungsbereich und einem Neigungsbereich von ± 5 °. Es bietet eine Probendrehoption für Dual-Imaging und eine Stop-and-Go-Option für intermittierende Probendrehung. HITACHI S 4700 II bietet eine Reihe von Optionen zur Erleichterung der Probenvorbereitung, einschließlich des Zweistrahls Low Vacuum Auto-Preparation Asset (LVA), eines hochpräzisen Ionenfräsmodells und einer Elektronenstrahl-Lithographie-Ausrüstung. Es hat auch eine erweiterte Kühlfähigkeit, um thermische Drift und Energieundichtigkeit aus der Elektronenquelle zu reduzieren. Schließlich verfügt das System über ein ultrakompaktes Design und ergonomische Bedientafel für einfache Bedienung. S-4700-II unterstützt eine Netzwerkverbindung über LAN und ermöglicht den Remote-Betrieb. Es bietet auch einen integrierten Bildanalyse-Finish-Prozessor zur schnellen Optimierung der Bildqualität. Insgesamt bietet das Rasterelektronenmikroskop S-4700 II eine Reihe von Funktionen und Optionen, mit denen hochauflösende Bilder mit Leichtigkeit und Flexibilität erzeugt werden können. S 4700 II ist mit seinen fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen und mehreren Funktionen ein ideales Werkzeug für Forschung und industrielle Anwendungen.
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