Gebraucht HITACHI S-4700 II #9389830 zu verkaufen

HITACHI S-4700 II Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist eine fortschrittliche bildgebende Ausrüstung, die in Forschung und Entwicklung, Qualitätssicherung und Fehleranalyse Anwendungen in einer Vielzahl von Branchen verwendet wird. Es bietet hochauflösende Bildgebung bei Vergrößerungen von bis zu 30.000 Mal mit einer betrieblichen Vergrößerung von 1,3 bis 500.000 Mal. Das System ist mit einer Kaltfeld-Emissionskanone (FEG) ausgestattet und verfügt über zwei Elektronenoptiken, eine Lichteinheit und eine Hochleistungsmaschine. HITACHI S 4700 II verfügt über eine einzigartige Dual Detector-Funktion, die den gleichzeitigen Betrieb von zwei Detektoren ermöglicht. Diese Funktion bietet eine verbesserte Messgenauigkeit, schnellere Analyse und weniger Bearbeitungszeit. Das analytische Detektordetektorwerkzeug umfasst einen rückgestreuten Elektronendetektor für die Zusammensetzungsanalyse und einen sekundären Elektronendetektor für die dreidimensionale Oberflächenbildgebung. Das Lichtdetektorgut besteht dagegen aus einem Lichtdetektor für die Hochgeschwindigkeitsbildgebung und einem Hellfelddetektor für die Farbabbildung biologischer Proben. S-4700-II ist auch mit einem energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDS) mit Vier-Elemente-Detektor und einem automatischen Ausrichtungsmodell ausgestattet. Dies erhöht die Effizienz des Betriebs, was eine zeitaufwendige manuelle Ausrichtung überflüssig macht. Das EDS ermöglicht die elementare Kartenanalyse, Detektion und Identifizierung von Elementen bis auf atomare Ebene. Mit diesen effizienten Funktionen bietet HITACHI S-4700-II die bestmögliche Balance zwischen hochauflösender Bildgebung und Hochgeschwindigkeitsdatenverarbeitung. Die automatisierte Waffenoptik von S 4700-II verfügt über automatische Nachführung und Feinfokusregelung zur präzisen Strahleinstellung. Darüber hinaus ist das System in der Lage, Pulsmodus-Bildgebung und Drift lieferte Kompensation (DSC) zu reduzieren thermische Drift, die üblich ist, um Daten mit hoher Präzision zu sammeln. S-4700 II verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI) und eine automatische Makrofunktion, die die Betriebseffizienz verbessert. Die GUI ermöglicht eine mühelose Navigation der Software und die Erfassung von sehr detaillierten Bildern aus großen Probenbereichen wie Leiterplatten oder biologischen Zellen. S 4700 II ist das ideale Rasterelektronenmikroskop für Forscher und Ingenieure, die eine hochauflösende Bildgebung in Kombination mit effizienter Automatisierung und benutzerfreundlicher Bedienung benötigen. Mit seinen präzisen, schnellen und analytischen Fähigkeiten bietet HITACHI S 4700-II die beste Rasterelektronenmikroskopie-Erfahrung mit seiner Kombination fortschrittlicher Funktionen.