Gebraucht HITACHI S-4700 II #9395237 zu verkaufen

HITACHI S-4700 II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit überlegener Leistung und fortschrittlichen Eigenschaften. Es wurde entwickelt, um die Anforderungen der professionellen Rasterelektronenmikroskopie und Materialanalyse zu erfüllen. HITACHI S 4700 II kombiniert hochauflösende bildgebende und analytische Fähigkeiten mit einer breiten Palette von Probenvorbereitungstechniken. S-4700-II hat Dual-Gun-Design, bietet verbesserte Auflösung und mehr Kontrast. Es ist mit einer Elektronenkanone mit einem Emissionsstrom bis 10 nA und einer Pistolenspannung bis 10 kV ausgestattet. Es hat eine Beschleunigungsspannung, die in 1 V-Stufen über einen Bereich von 1-30 kV eingestellt werden kann. Die Beschleunigungsspannung kann in 1 V-Schritten zwischen 1-10 kV weiter feinjustiert werden. Die von diesem Mikroskop verwendete Beschleunigungsspannung kann die Qualität der Bilder und die Analyseergebnisse beeinflussen. S 4700-II Angebote eine Wahl von Entdeckern einschließlich eines Entdeckers des Digitalsignalverarbeiters (DSP), Entdeckers des zurückgestreuten Elektrons (BSE) und niedriger Stromspannung sekundäres Elektron (LVSEM) Entdecker. Es kann auch mit einem energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDS) für die Elementaranalyse ausgestattet werden. HITACHI S-4700-II verfügt über einen automatisierten Probenwechselmechanismus mit bis zu sechs Probenhaltern. Bei der Herstellung mehrerer Probenhalter kann es viel Zeit sparen. S 4700 II hat eine Vielzahl von Abbildungsmodi einschließlich Hellfeld, Sekundärelektron, Rückstreuelektron, Kathodolumineszenz und Massenspektroskopie Bildgebung. S-4700 II kann sowohl für die Feldemission als auch für die variable Druckabtastung verwendet werden. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Probenvorbereitungstechniken durchzuführen, einschließlich Ionenmahlen, chemisches Ätzen, Beschichten und Sputterätzen. Das SEM verfügt außerdem über eine CAE-Funktion (Computer Aided Automation), die die Bedienung erleichtert. Diese Funktion gewährleistet höchste Bildqualität durch automatische Einstellung optimaler Abbildungsbedingungen. HITACHI S 4700-II bietet auch eine Reihe von Software-Kommunikationsprogrammen, mit denen der Analyst Bilder schnell analysieren kann. HITACHI S-4700 II bietet zahlreiche Vorteile, darunter eine verbesserte Auflösung, ein breites Spektrum an Probenvorbereitungstechniken, einen automatisierten Probenwechselmechanismus und einen verbesserten Kontrast. Es ist ein zuverlässiges Werkzeug für professionelle Analyse und Bildgebung, und seine erweiterten Funktionen macht es nützlich für unzählige Anwendungen.