Gebraucht HITACHI S-4700 Type I #293597105 zu verkaufen

ID: 293597105
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS.
HITACHI S-4700 Scan-Elektronenmikroskop Typ I (SEM) bietet hochauflösende Mikroskopiebilder und zusammengesetzte Elementanalysen. Es verfügt über eine detaillierte Bildauflösung von bis zu 10 nm, mit einem Sichtfeld von bis zu 90 mm Durchmesser. Das Mikroskop verfügt über fortschrittliche Funktionen wie eine flüssige stickstoffgekühlte Elektronenkanone, eine große Kammerkapazität und einen hohen Ionenstrahl-Strom von bis zu 45mA. S-4700 Typ I bietet eine Reihe von bildgebenden Techniken wie TEC (Thermal Electron Capture), Backscatter Electron Imaging (BSE), optische Beugung, SE (Secondary Electron Imaging) und EBIC (Electron Beam induced Current). Es ist auch mit E-Beam-Lithographie ausgestattet, die die Erzeugung präziser 3D-Strukturen ermöglicht. Das Gerät ist mit einem speziellen digitalen Abbildungssystem konfiguriert, dem ADC (Analog-Digital-Steuerung), das bei der Erfassung von digitalen Bildern hilft, die eine höhere Treue aufweisen als die aus analogen Methoden. HITACHI S-4700 Type I ist zudem sehr vielseitig einsetzbar und ermöglicht die direkte Manipulation von Proben mit der gleichen Präzision und Genauigkeit wie herkömmliche SEMs. Zusätzlich ist das Gerät mit einem STM (Scanning Tunneling Microscope) sowie einem EDX (Energy Dispersive X-Ray) Detektor zur chemischen Analyse verschiedener Elemente und Phasen ausgestattet. Zusätzlich kann das Mikroskop mit Computern integriert werden, um Fernbedienung und Automatisierung zu gewährleisten. Integriert mit modernsten Funktionen und präziser Steuerung, macht S-4700 Typ I es zu einer unschätzbaren Wahl für eine breite Palette von industriellen und akademischen Anwendungen. Mit überlegener Leistung, Zuverlässigkeit und Skalierbarkeit wird die Maschine eine wertvolle Ergänzung sein und ermöglicht es Forschern und Wissenschaftlern, die mikrostrukturellen Parameter moderner Materialien und Komponenten zu erforschen.
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