Gebraucht HITACHI S-4700 Type I #293604809 zu verkaufen

ID: 293604809
Scanning Electron Microscope (SEM) 5-Axis manual.
HITACHI S-4700 Type I Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein bildgebendes Gerät, das mit fokussierten Elektronenstrahlen die Struktur von Proben vergrößert und analysiert. Es hat eine hohe Auflösung und bietet eine breite Palette von Möglichkeiten für visuelle Inspektion und mikroskopische Analyse. Die S-4700 verwendet eine Elektronenkanone, um einen Strahl von Elektronen zu erzeugen, der über ein magnetisches Linsensystem gesteuert wird. Die Elektronenkanone ist eine Vakuumkammer, die eine Antikathode enthält, die Elektronen erzeugt. Dieser Elektronenstrahl wird dann in einem Abtastmuster über die Probe mobilisiert und die Wechselwirkungen zwischen Elektronen und Probenoberflächenatomen erzeugen sekundäre Signale, die vom Elektronendetektor aufgenommen und zu einem Bild interpretiert werden. Neben der Bildgebung ermöglicht die S-4700 die elementare Analyse der chemischen Zusammensetzung einer Probe mit Hilfe der energiedispersiven Spektroskopie (EDS) oder der Wellenlängen-Dispersionsspektroskopie (WDS). Das S-4700 hat eine ultimative Bildauflösung von 2 nm bei 20kV, was es für eine Vielzahl von Anwendungen nützlich macht, von der Beobachtung der glatten Oberfläche von Halbleiterwafern bis zur Inspektion des Innern von Nanodrähten. Dieses Mikroskop ist auch in der Lage, nichtleitende Proben zu beobachten, so dass es einzigartig für eine Vielzahl von industriellen Anwendungen geeignet ist. Die S-4700 bietet auch Low Vacuum Imaging-Fähigkeiten, so dass der Bediener Proben ohne Probenvorbereitung zu sehen. Dies wird durch Einbringen einer Pumpe in die Probenkammer erreicht, die ein Niederdruckvakuum erzeugt, um eine Vakuumbeschichtung der Probe vor der Bildgebung zu vermeiden. Weitere Merkmale der S-4700 sind Autofokus, motorisierte Stufen, Image Management Suite und Data Analysis Software, so dass Wissenschaftler und Ingenieure eine schnelle, präzise und genaue Analyse durchführen können. Insgesamt ermöglicht S-4700 Typ-I-SEM die einfache Erfassung, Analyse und Interpretation von Bildern mit den kleinsten Merkmalen auf jeder Probenoberfläche. Es ist ein zuverlässiges und vielseitiges bildgebendes Instrument, das für mehrere mikroskopische Anwendungen geeignet ist.
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