Gebraucht HITACHI S-4700 Type I #293812845 zu verkaufen
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ID: 293812845
Scanning Electron Microscope (SEM)
HP/Compaq Computer
Keyboard
Mouse
Toolbox and tools
Secondary electron image resolution:
2.1 nm at 1 kV
1.5 nm at 15 kV
Electron optics:
Cold field emission electron gun
Accelerating voltage: 0.5 – 30 kV (0.1 kV steps)
Probe current: 1 pA - 2 nA
Magnification: ×20 - × 500,000
Image display:
Operation/display OS: Windows NT
Frame resolution:
640 × 480 pixels
1280 × 960 pixels
2560 × 1920 pixels
Image formats: BMP, TIFF, JPEG
Scan speed:
TV/slow (0.5 – 40 s/frame) for viewing
Slow (40 – 320 s/frame) for recording
Image processing:
Automatic brightness & contrast
Autofocus, auto-stigmation
Raster rotation, averaging, frame integration
Color display
Auto data recording
Electrical image shift: ±15 µm (W.D. = 12 mm)
Vacuum system:
Pneumatic valve control
Vacuum levels:
Electron gun: ~10⁻⁷ Pa
Specimen chamber: ~10⁻⁴ Pa
Pumps:
Fore pumps: 140 L/min (168 L/min)
Diffusion pump: 570 L/s × 1 set
Ion pumps: ×3 sets
Dimensions:
Column: 82 × 88 × 165 (H) cm.
HITACHI S-4700 Type I ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einem hochauflösenden Sekundärelektronen (SE) bildgebenden Gerät zur Beobachtung der Oberflächenstruktur verschiedener Proben. Es ist mit einer Ultrahochvakuum (UHV) -Kammer ausgestattet, die eine Umgebung mit extrem geringer Kontamination für die Beobachtung und Analyse von Proben bietet. S-4700 Typ I bietet Benutzern die 6,7-nm-SE-Auflösung. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Proben mit seiner super hohen Vergrößerungen Vergrößerung von 100 kx (~ 8 nm räumliche Auflösung) abzubilden. Das fortschrittliche digitale Signalverarbeitungssystem ermöglicht Kontraststeigerung für bessere Bildklarheit und auswählbare Bildverarbeitungsfunktionen, um den Bildkontrast zu verbessern. Die Bildwiederholfrequenz in Echtzeit sorgt dafür, dass selbst die empfindlichsten Probendetails genau erfasst werden. Der automatische Schaltmechanismus SEM-EDS ermöglicht ein schnelles Umschalten zwischen Funktionalitätsmodi zwischen dem Rasterelektronenmikroskop und der energiedispersiven Spektroskopie (EDS). HITACHI S-4700 Type I hat einen verstellbaren Probenkammerneigungswinkel, der eine präzisere und präzisere Abbildung ermöglicht. Die Handhabung der Proben wird durch die Oberfläche erleichtert, was für Proben, die eine genaue Positionierung erfordern, unglaublich nützlich ist. Die Probenstufe verfügt auch über eine Autofokus-Einheit. S-4700 Instrument Typ I ist mit einem großen Bildoptikfeld ausgestattet, um eine direkte Bildvergrößerung ohne Beeinträchtigung der Auflösung zu ermöglichen. Dies ermöglicht Vergrößerungen von bis zu 40.000x. HITACHI S-4700 Rasterelektronenmikroskop Typ I ist das perfekte Instrument sowohl für hochauflösende Bildgebung als auch für analytische Zwecke. Die hochauflösenden Bilder zeichnen sich durch einen hervorragenden Kontrast und eine hervorragende Auflösung aus, die sich perfekt für eine detaillierte Analyse eignet. Die vielfältigen Merkmale neben den technischen Spezifikationen machen es zu einem vielseitigen Werkzeug für industrielle und wissenschaftliche Anwendungen gleichermaßen.
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