Gebraucht HITACHI S-4700 Type I #293812845 zu verkaufen

ID: 293812845
Scanning Electron Microscope (SEM) HP/Compaq Computer Keyboard Mouse Toolbox and tools Secondary electron image resolution: 2.1 nm at 1 kV 1.5 nm at 15 kV Electron optics: Cold field emission electron gun Accelerating voltage: 0.5 – 30 kV (0.1 kV steps) Probe current: 1 pA - 2 nA Magnification: ×20 - × 500,000 Image display: Operation/display OS: Windows NT Frame resolution: 640 × 480 pixels 1280 × 960 pixels 2560 × 1920 pixels Image formats: BMP, TIFF, JPEG Scan speed: TV/slow (0.5 – 40 s/frame) for viewing Slow (40 – 320 s/frame) for recording Image processing: Automatic brightness & contrast Autofocus, auto-stigmation Raster rotation, averaging, frame integration Color display Auto data recording Electrical image shift: ±15 µm (W.D. = 12 mm) Vacuum system: Pneumatic valve control Vacuum levels: Electron gun: ~10⁻⁷ Pa Specimen chamber: ~10⁻⁴ Pa Pumps: Fore pumps: 140 L/min (168 L/min) Diffusion pump: 570 L/s × 1 set Ion pumps: ×3 sets Dimensions: Column: 82 × 88 × 165 (H) cm.
HITACHI S-4700 Type I ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einem hochauflösenden Sekundärelektronen (SE) bildgebenden Gerät zur Beobachtung der Oberflächenstruktur verschiedener Proben. Es ist mit einer Ultrahochvakuum (UHV) -Kammer ausgestattet, die eine Umgebung mit extrem geringer Kontamination für die Beobachtung und Analyse von Proben bietet. S-4700 Typ I bietet Benutzern die 6,7-nm-SE-Auflösung. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Proben mit seiner super hohen Vergrößerungen Vergrößerung von 100 kx (~ 8 nm räumliche Auflösung) abzubilden. Das fortschrittliche digitale Signalverarbeitungssystem ermöglicht Kontraststeigerung für bessere Bildklarheit und auswählbare Bildverarbeitungsfunktionen, um den Bildkontrast zu verbessern. Die Bildwiederholfrequenz in Echtzeit sorgt dafür, dass selbst die empfindlichsten Probendetails genau erfasst werden. Der automatische Schaltmechanismus SEM-EDS ermöglicht ein schnelles Umschalten zwischen Funktionalitätsmodi zwischen dem Rasterelektronenmikroskop und der energiedispersiven Spektroskopie (EDS). HITACHI S-4700 Type I hat einen verstellbaren Probenkammerneigungswinkel, der eine präzisere und präzisere Abbildung ermöglicht. Die Handhabung der Proben wird durch die Oberfläche erleichtert, was für Proben, die eine genaue Positionierung erfordern, unglaublich nützlich ist. Die Probenstufe verfügt auch über eine Autofokus-Einheit. S-4700 Instrument Typ I ist mit einem großen Bildoptikfeld ausgestattet, um eine direkte Bildvergrößerung ohne Beeinträchtigung der Auflösung zu ermöglichen. Dies ermöglicht Vergrößerungen von bis zu 40.000x. HITACHI S-4700 Rasterelektronenmikroskop Typ I ist das perfekte Instrument sowohl für hochauflösende Bildgebung als auch für analytische Zwecke. Die hochauflösenden Bilder zeichnen sich durch einen hervorragenden Kontrast und eine hervorragende Auflösung aus, die sich perfekt für eine detaillierte Analyse eignet. Die vielfältigen Merkmale neben den technischen Spezifikationen machen es zu einem vielseitigen Werkzeug für industrielle und wissenschaftliche Anwendungen gleichermaßen.
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