Gebraucht HITACHI S-4700 Type I #293814603 zu verkaufen
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ID: 293814603
Wafergröße: 6"
Weinlese: 2001
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 6"
Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS) detector
Cold Field Emission Gun (FEG) electron source
Secondary Electron (SE) detector
Backscattered Electron (BSE) detector
Anti-Vibration Table (AVT)
Vacuum pump
Control computer
Monitor
Chiller
Air compressor
2001 vintage.
HITACHI S-4700 Type I ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Bildgebung, Analyse und dreidimensionalen Rekonstruktion einer Vielzahl von Proben. Das SEM ist mit einer Hochleistungs-Elektronensäule und einem fortschrittlichen digitalen Bildprozessor ausgestattet, der eine Bildgebung bei Vergrößerungen bis zu 300.000x ermöglicht. Um diese hervorragende Auflösung und Bildqualität bereitzustellen, verwendet S-4700 Typ I ein Ultrahochvakuum (UHV) -Gerät mit einem speziellen Schaltkreis, um Partikelverunreinigungen zu minimieren und die Stabilität der Proben zu maximieren. Dieses System besteht aus elektronenoptischen Teilen, Detektoren und einer Reihe weiterer Komponenten, die den Bereich der Abbildungsmöglichkeiten erweitern. Darüber hinaus enthält das Mikroskop auch eine Elektronenquelle, eine Kondensatorlinse, einen Probenhalter und eine Probenkammer, wodurch detaillierte Bilder aufgenommen werden können. Darüber hinaus bietet HITACHI S-4700 Type I ein breites Spektrum an analytischen Möglichkeiten, wie Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) und Energiedispersive Röntgenanalyse (EDS). Diese Techniken ermöglichen eine eingehende Analyse der Zusammensetzung, Struktur und Zusammensetzung unterschiedlichster Materialien. S-4700 Typ I kann mit einer speziellen Automatisierungseinheit für den unbeaufsichtigten Betrieb in Forschungs- und Entwicklungsstudien ausgestattet werden. Dieses Merkmal ermöglicht die sequentielle Analyse mehrerer Proben mit minimalem menschlichen Eingriff. Darüber hinaus kann die Maschine auch mit einer Vielzahl von Bühnenbefestigungen ausgestattet werden, einschließlich Autostufen, Filterstufen, Autostufen mit Filterstufen, Autostufen mit Filterstufen und Autostufen mit Filterkratenstufen, um eine Reihe von Probenmaterialien unterzubringen. Darüber hinaus ist das Tool auch mit Pro Scanning Software ausgestattet, die eine effiziente, automatisierte Bedienung sowie Bildanalyse- und Bildverarbeitungsfunktionen ermöglicht. Insgesamt ist HITACHI S-4700 Type I ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit beispiellosen Bildgebungs-, Analyse- und Automatisierungsfunktionen, was es zu einer idealen Wahl für Forschung, Entwicklungsstudien und viele andere Anwendungen macht.
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