Gebraucht HITACHI S-4700 Type I #9258486 zu verkaufen

ID: 9258486
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM), 12" No EDX 2001 vintage.
HITACHI S-4700 Type I Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein vielseitiges, leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop von HITACHI High Technologies. Die Ausrüstung wurde entwickelt, um Forschern auf dem Gebiet der Oberflächenwissenschaften, Materialwissenschaften und analytischen Wissenschaften fortschrittliche bildgebende Fähigkeiten zur Verfügung zu stellen. S-4700 Typ I SEM kombiniert modernste Optik mit einer umfassenden Partikelquelle zur Bildgebung und Analyse unterschiedlichster Proben. Das integrierte System bietet hochauflösende bildgebende Funktionen von bis zu 60nm mit einem Beschleunigungsspannungsbereich von 0-30keV. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine Reihe fortschrittlicher Detektoren wie einen Everhart-Thornley-Detektor, SE2, BSED und einen digitalen Bildsignalprozessor. Die Maschine ist auch mit einem Röntgenspektrometer ausgestattet, das die Analyse von Röntgenelementen durch energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) ermöglicht. HITACHI S-4700 Typ I eignet sich auch für Kryomikroskopieanwendungen und ist mit einer Kryo-Aufbereitungskammer zur präzisen Probenvorbereitung ausgestattet. Das Tool ist auch in der Lage, sekundäre Elektronenbilder und rückgestreute Elektronenbilder abzubilden, sodass Benutzer fortgeschrittene Bildgebungstechniken wie EDS-Tomographie und Phasenmapping durchführen können. Um optimale Bildverarbeitungsbedingungen zu gewährleisten, ist das Gerät mit einem fortschrittlichen Stufensteuerungsmodell und hochsensiblen Autopilot-Geräten ausgestattet. S-4700 Typ I ist auf ultimativen Bedienkomfort und Komfort ausgelegt, mit seiner benutzerfreundlichen Bedienung und verschiedenen automatisierten Funktionen. Eine intuitive Touchscreen-Benutzeroberfläche ermöglicht den einfachen Zugriff auf alle Systemfunktionen. Das Gerät bietet auch Softwareprogramme zur effizienten und leistungsstarken Bedienung des sem, wie computergestützte Bildverarbeitung und automatisierte quantitative Analyse. Insgesamt bietet HITACHI S-4700 Type I SEM leistungsstarke bildgebende Funktionen mit einer Reihe fortschrittlicher Detektor- und Steuerungssysteme und ist damit ideal für die Forschung in den Bereichen Materialwissenschaft, Oberflächenanalyse und Analysewissenschaften.
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