Gebraucht HITACHI S-4700 Type I #9265144 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Type I
ID: 9265144
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4700 Type I ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es hat eine ultra-hohe Auflösung von 0,4 Nanometern und macht es ideal für die Abbildung verschiedener Proben mit sehr hoher Genauigkeit. Dieses fortschrittliche Gerät verfügt auch über eine fortschrittliche Feldemissionskanone (FEG), die einen Strahl von hochenergetischen Elektronen für die Probenoberflächenanalyse erzeugt, mit einer endgültigen Bildgröße von bis zu 4.000 x 3.000 Pixel. Konstruktiv verfügt S-4700 Typ I über ein kompaktes Design-Layout, das in jeden Laborarbeitsbereich passt und auch in einer Vielzahl von Geometrien verwendet werden kann. Dieses System verfügt zudem über eine leistungsstarke Elektronensteuerung, die eine detaillierte, präzise und effiziente Steuerung des Betriebs der SEM-Säule ermöglicht. Die fortschrittliche Bildverarbeitungsmaschine enthält auch zwei leistungsstarke Linsen - eine Elektronenobjektivlinse und eine Parabelform-Kollektorlinse -, die zusammenarbeiten, um Informationen zu erfassen, die nicht von regulären optischen Mikroskopen gesehen werden können. HITACHI S-4700 Type I verfügt auch über eine Reihe von bildgebenden Funktionen, wie eine große Schärfentiefe, hohe Kontrastabbildung, erweiterte Schärfentiefe, Backscatter-Bildgebung, Bildgebung mit geringer Vergrößerung und variable Druckabbildung durch Verwendung der optionalen Druckeinheit. Es ist das einzige SEM-Tool auf dem Markt, das eine hochauflösende Matrix-Bildgebung bietet, die ideal für die Darstellung kristallographischer Strukturen ist. Darüber hinaus enthält der erweiterte Bildbestandteil eine Reihe von Funktionen, die das Ausgangsbild verbessern können, wie Kontrastverbesserung und dreidimensionale Bildgebung. In Bezug auf die Sicherheit verfügt S-4700 Typ I über erweiterte Sicherheitsmerkmale, die Benutzer vor potenziell schädlicher Strahlung schützen, z. B. einen Durchgangsschutz und eine Elektronenschildeinheit, die die Exposition gegenüber Elektronenstrahlen begrenzt. Es ist auch mit einer Niederspannungs-Elektronenkanone ausgelegt, die das Belichtungsrisiko noch weiter reduziert. Insgesamt ist HITACHI S-4700 Type I Scanning Electron Microscope ein fortschrittliches Modell, das Forschern beispiellose bildgebende Fähigkeiten bietet. Seine ultrahohe Auflösung und sein umfangreiches Leistungsspektrum machen es zur idealen Wahl für die Abbildung unglaublich kleiner Exemplare mit komplizierten Details.
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