Gebraucht HITACHI S-4700 Type I #9394048 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochentwickeltes Werkzeug, das Forschern detaillierte Bilder und Messungen der Oberfläche mikroskopischer Proben liefert. Das Instrument ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, darunter eine Elektronenquelle, Elektronenoptik, Abbildungsdetektor, Probenvorbereitungskammer und eine Computerschnittstelle. Die Elektronenquelle in S-4700 Typ I ist in der Lage, in drei Modi zu arbeiten: In-Linse, Extraktion-Linse und Schottky-Feldemission. Der In-Linsen-Modus wird zur Beschleunigung von Elektronen auf die Probe verwendet, während der Extraktion-Linsen-Modus zur Beschleunigung von Elektronen auf hohe Energien verwendet wird. Der Schottky Field Emission Modus verwendet ein Heizelement, um die Elektronenemission zu erhöhen und eine höhere Auflösung zu erzielen. Die Elektronenoptik von HITACHI S-4700 Typ I besteht aus einer Reihe von Linsen und Ablenkern zur Fokussierung und Steuerung der Eigenschaften des Elektronenstrahls. In Verbindung mit der Elektronenkanone werden diese Linsen und Ablenker verwendet, um Strahlstrom, Größe und Form zu regulieren. Zusätzlich können die Linsen und Ablenker je nach Anwendung für die vergrößerte oder nicht vergrößerte Bildgebung konfiguriert werden. Der bildgebende Detektor des S-4700 Typ I ist eine digitale CCD-Kamera, die zur Aufnahme von Bildern der Probe sowohl im Nieder- als auch im Hochvakuum-Modus verwendet wird. Der Detektor kann sowohl Schwarzweiß- als auch Farbbilder erzeugen und bietet Auflösungen bis zu 1,5 nm pro Pixel. Die Probenvorbereitungskammer von HITACHI S-4700 Typ I soll eine versiegelte Umgebung für die Vorbereitung und Probenanalyse bieten. Diese Kammer ist mit oberen und unteren Kippstufen sowie einem Probenhalter für die Montage von Proben ausgestattet. Die Computerschnittstelle des S-4700 Typ I ermöglicht den Fernbedienung und Datenaustausch mit dem Instrument. Diese Schnittstelle wird über eine dedizierte proprietäre Software-Anwendung implementiert, die Benutzern leistungsstarke Funktionen zur Steuerung, Überwachung und Anpassung von Operationen bietet. Zusammenfassend ist HITACHI S-4700 Type I ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop, das für Anwendungen in den unterschiedlichsten Bereichen entwickelt wurde. Das Gerät ist mit einer Vielzahl von Komponenten und Funktionen ausgestattet, darunter eine Elektronenquelle, Elektronenoptik, bildgebender Detektor, Probenvorbereitungskammer und eine Computerschnittstelle, was es zu einem idealen Werkzeug für Forscher macht, die detaillierte Bilder und Messungen von mikroskopischen Proben benötigen.