Gebraucht HITACHI S-4700 Type I #9396172 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Type I Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochmodernes SEM, das hervorragende bildgebende Fähigkeiten insbesondere im Bereich der Materialwissenschaft bietet. Es bietet beispiellose Bildgebung mit erweiterten bildgebenden Funktionen, und seine leistungsfähige analytische Software ermöglicht es Benutzern, detaillierte Analyse von Proben durchzuführen. Dieses SEM umfasst eine Elektronenkanone, eine Elektronenoptik und eine Probenstufe. Die Elektronenkanone ist eine fokussierte Punktquelle geladener Teilchen, die hochenergetische Elektronenstrahlen bei hohen Stromdichten erzeugen kann. Es enthält eine Probenkammer, die die Elektronenkanone, die Elektronenoptik und die Probenstufe aufnimmt. Die Elektronenoptik enthält mehrere Sätze von Linsen und Ablenkern, die den Elektronenstrahl formen und lenken. Die Probenstufe ist eine Hochvakuumplattform, die es dem Benutzer ermöglicht, die zu beobachtende Probe exakt zu positionieren und zu drehen. S-4700 Typ I nutzt ein CCD-Bildgebungsgerät, um ein Elektronenstrahlsignal in ein sichtbares Bild umzuwandeln. Dieses bildgebende Gerät erfasst Bilder schnell und effizient und erzeugt saubere, hochauflösende Bilder. Darüber hinaus verfügt dieses SEM über einen optionalen Energy-Dispersive Röntgenanschluss (EDX), mit dem Benutzer Röntgenmikroanalysen an ihren Proben durchführen können. HITACHI S-4700 Type I ist mit einer leistungsstarken, einfach zu bedienenden grafischen Benutzeroberfläche (GUI) zur Steuerung aller Aspekte des Mikroskops ausgestattet. Die GUI umfasst entscheidende Funktionen wie Bildmanipulation, Bildmesswerkzeuge, Datenerfassung und Analyseaufgaben. Es ermöglicht Benutzern auch, bis zu vier Betriebsparameter für jede Probe anzupassen, wie Vergrößerung, Waffe Wellenlänge, Spannung und Strom, sowie einstellbare Parameter wie Scan-Geschwindigkeit und Scan-Rate. S-4700 Typ I bietet eine Reihe von praktischen Anwendungen, wie automatische SEM-Kartierung, 3D-analytische Rekonstruktion, Partikelgröße und Abbildung von Nanopartikeln, und Morphologie-Analyse, alle mit ausgezeichneter Bildauflösung und Genauigkeit. Seine überlegenen analytischen Fähigkeiten machen es zu einem idealen Werkzeug für Anwendungen wie Materialwissenschaft, Nanomaterialien und Umweltüberwachung. HITACHI S-4700 Type I eignet sich sowohl für Forschungs- als auch für Industrielabore und bietet ein zuverlässiges, erschwingliches und hocheffizientes SEM für alle Anwendungen.