Gebraucht HITACHI S-4700 Type II #293587272 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Type II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Abbildung von Proben mit einer maximalen Vergrößerung von bis zu 300.000 Mal ermöglicht. Es verfügt über ein neues Anti-Vibrations-Design, um Vibrationen zu reduzieren und die Bildqualität zu verbessern. HITACHI S 4700 TYPE II ist ein modulares Gerät, das Probenstufen, ein optisches System und eine progressive Vergrößerung umfasst. Die optische Einheit umfasst eine Elektronenkanone, Säulenlinsen, eine Objektivlinse und eine Abbildungsmaschine. Die Probenstufen sind beweglich und können eine breite Palette von Probengrößen aufnehmen. Die progressive Vergrößerung bietet ein hochauflösendes Bild des Detailbereichs mit einer maximalen Vergrößerung von bis zu 300.000 Mal. Die eingebauten Bildanalysefunktionen ermöglichen eine schnelle und einfache Datenmanipulation und -analyse. S-4700 Typ II ist auch mit einem Flächendetektor und einem Signalverarbeitungswerkzeug ausgestattet, um die Bildqualität zu verbessern. Der Flächendetektor ermöglicht einen breiteren Erfassungsbereich von Signalspitzen und Tälern, während die Signalverarbeitungsanlage weitere Signalverarbeitung, Verzerrungskorrekturen und eine Vielzahl von Betrachtungswinkeln ermöglicht. Die Signalverarbeitung des Detektors verbessert Kontrast und Kontrastauflösung und ermöglicht eine detailliertere Ansicht der Probenmerkmale. Dieses SEM ermöglicht es Benutzern, helle und kontrastreiche Bilder der Probe in Kombinationen verschiedener Bildverarbeitungsfunktionen wie Kontrast, Helligkeit und vergrößerte Ansichten zu erfassen. Neben der hochauflösenden Bildgebung ist der S 4700 TYPE II auch mit einem breiten Bildverarbeitungsmodell ausgestattet. Diese Ausrüstung kann die Fokustiefe der Probe erhöhen und gleichzeitig eine hochauflösende Bildgebung ermöglichen. Das breite Sichtfeld ermöglicht es, feine Details in der Probe von einem großen Bereich aus zu erfassen. Es hat auch eine Vielzahl von Kontrastmodi wie Kontrastinversion und Kontrastdehnung, die verwendet werden können, um den Bildkontrast zu verbessern und feinere Details aufzudecken. HITACHI S-4700 Type II bietet auch eine Vielzahl von Probenaufbereitungsverfahren an. Der eingebaute Sputter-Coater kann Probeoberflächen gleichmäßig beschichten und ermöglicht eine mehrstufige Stoffanalyse und eine verbesserte Bildqualität. Die duale Ionisationsquelle ermöglicht eine chemische Artanalyse und der rückgestreute Elektronendetektor eine detaillierte Topographieanalyse der Probe. HITACHI S 4700 TYPE II ist ein unschätzbares Werkzeug zur Erforschung, Analyse und Dokumentation extrem kleiner Exemplare. Mit seinem fortschrittlichen Design und seinen Fähigkeiten ist dieses SEM ideal für jede Anwendung, die eine hochauflösende Bildgebung und detaillierte Probenanalyse erfordert.