Gebraucht HITACHI S-4700 Type II #293602528 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Type II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit hoher Auflösung. Dieses Produkt richtet sich an Anwender, die an der Abbildung einer Vielzahl von elektronischen Materialien wie Halbleitern, Mikrobauelementen, Leiterplatten und mehr interessiert sind. Dieses Mikroskop ermöglicht es Forschern, mehr Details als je zuvor in einer viel höheren Auflösung zu beobachten. Es nutzt primäre und sekundäre Elektronendetektion, so dass präzise Bilder auch in einem sehr kleinen Maßstab. HITACHI S 4700 TYPE II ist ein Desktop-SEM mit einer luftgekühlten Elektronenquelle, die mit geringem Aufwand eine konsistente Bildgebung gewährleistet. Das Mikroskop hat eine maximale Vergrößerung von bis zu 2000x, was zu extrem feinen Details in den Bildern führt. Dieses Mikroskop verfügt auch über eine Vielzahl von Funktionen, die entwickelt wurden, um den Bildgebungsprozess glatter zu machen, wie z. B. einen Rückstreuelektronendetektor mit niedriger Energie, einen hochauflösenden Monochromator und eine robotergestützte Probenhalterausrüstung. S-4700 Typ II kann verschiedene Materialien analysieren, unabhängig von der Dicke oder Oberflächentopologie der Probe. Dieses Modell ist vorteilhaft für Forscher, die jedes Material mit einer Dicke von weniger als einem Mikron analysieren müssen. Das Mikroskop ist mit einer Vielzahl von Sensoren und Merkmalen ausgestattet, wie einer zeilengescannten Elektronenkanone, einem 25-ebenen Bühnensystem, einer Chrombeschichtungseinheit, einem Weitwinkel-Rückstreuelektronendetektor und einem 5-Achsen-Manipulator. Neben seinen bildgebenden Fähigkeiten ist S 4700 TYPE II auch in der Lage, chemische Zusammensetzung und elektrische Eigenschaften zu analysieren. Das eingebaute Spektrometer kann verwendet werden, um Informationen über die chemische Zusammensetzung zu erhalten, und die sekundäre Elektronendetektionsmaschine ist in der Lage, detaillierte Bilder mit einer höheren Auflösung als je zuvor zu erhalten. Das Mikroskop beinhaltet auch die Fähigkeit, Oberflächenpotentiale zu analysieren, was HITACHI S-4700 Type II zu einem leistungsstarken Werkzeug für diejenigen macht, die oberflächenbezogene Phänomene untersuchen. Schließlich kann HITACHI S 4700 TYPE II von praktisch überall aus remote konfiguriert und gesteuert werden, so dass es für die Fernüberwachung und -steuerung geeignet ist. Dies macht es zu einer idealen Wahl für diejenigen, die die Kontrolle über ihr SEM behalten müssen, auch wenn sie vom Labor entfernt sind. S-4700 Typ II ist ein fortschrittliches Instrument, das den Bedürfnissen derjenigen gerecht wird, die Materialien und Objekte in kleinem Maßstab studieren müssen. Seine Eigenschaften und Fähigkeiten machen es zu einem leistungsfähigen Werkzeug zur Bildgebung von Materialien und zur Gewinnung nützlicher Informationen, ohne auf Genauigkeit oder Qualität zu verzichten.