Gebraucht HITACHI S-4700 Type II #293802476 zu verkaufen

HITACHI S-4700 ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM), ideal für eine Vielzahl anspruchsvoller Anwendungen. Mit seinen fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen bietet dieses SEM eine hervorragende Leistung, einen automatisierten Betrieb und eine einzigartige Benutzererfahrung. HITACHI S 4700 hat eine beeindruckende maximale Auflösung von 1,5 Nanometern und eine Nachweisgrenze von 0,5 Nanometern. Es ist in der Lage, detaillierte Bilder von Proben in Vergrößerungsstufen bis 200.000x zu erfassen. Diese vergrößerten Bilder ermöglichen eine präzise Analyse eines immensen Spektrums von Objekten, von Teilchen in Mikrogröße bis hin zu großen organischen Elementen. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über einen Probenliefermechanismus (SSM) zur automatischen Probenbeladung, der die Probenkontamination minimieren und die Geschwindigkeit und Effizienz maximieren soll. Das fortschrittliche digitale Bildgebungssystem von S-4700 bietet mehrere Detektionsmodi, einschließlich sekundärer Elektronen (SE), Rückstreuelektronen (BE) und Röntgenanalysen. Es ist auch mit einem einzigartigen Low-Vakuum-Modus ausgestattet, der die Abbildung von Oberflächenobjekten unter Einhaltung eines minimalen Emissionsniveaus ermöglicht. Darüber hinaus kann das Mikroskop auf die EBSD-Fähigkeit (Electron Backscatter Diffraction) zugeschnitten werden, wodurch ein zusätzliches Werkzeug zur Untersuchung von Probenmaterialien auf atomarer Ebene bereitgestellt wird. Die Benutzererfahrung dieses SEM wird von einer benutzerfreundlichen Steuerungssoftware, PROTEM, verwaltet, die eine einfache Manipulation aller Mikroskopeinstellungen ermöglicht, einschließlich Vergrößerung, Helligkeit, Kontrast und Fokus. Diese Software verfügt auch über eine intuitive Benutzeroberfläche und eine umfassende Bibliothek mit automatisierten Inspektionsskripten zum schnellen Studium großer Mustersätze und ähnlicher Proben. Mit seiner ausgezeichneten Bildqualität und intuitiven Bedienung ist S 4700 eine ausgezeichnete Wahl für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen. Es ist in der Lage, komplexe mikroskopische Aufgaben mit außergewöhnlicher Genauigkeit und Geschwindigkeit zu erledigen, so dass Benutzer die Mikrowelt detaillierter erkunden und neue Forschungsebenen erreichen können.