Gebraucht HITACHI S-4700 Type II #9234231 zu verkaufen

ID: 9234231
Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (CFE-SEM) Resolution: 2.1 nm at 1 kV Image mode: Secondary electron image (2) Secondary electron detectors OXFORD EDS Included.
HITACHI S-4700 Type II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das überlegene bildgebende Funktionen mit einer Vielzahl von analytischen Funktionen bietet. Es ist eine ausgezeichnete Wahl für wissenschaftliche Forschung, Industrie und Laboranwendungen. Die Ausrüstung verfügt über eine 200kV Wolfram-Filament-Pistole mit einer großen Tiefenschärfe Detektor, die eine detaillierte Analyse einer breiten Palette von Proben ermöglicht. Die hohe Auflösung und die Möglichkeit, dicke Proben abzubilden, machen HITACHI S 4700 TYPE II ideal für die Bildgebung und Analyse einer breiten Palette von Materialien, einschließlich Metallen, Keramik und Organik. S-4700 Typ II verwendet ein hochmodernes digitales Bildgebungssystem, das eine große Anzahl von Bildern sowie Funktionen wie Zusammenführen, Filtern, Videoaufzeichnung und Nähen von Bildern speichern kann. Es enthält auch eine intelligente Suchfunktion für den schnellen Abruf von gespeicherten Bildern. Zusammen mit einem hochauflösenden Farbmonitor und einer benutzerfreundlichen Touchscreen-Oberfläche macht das S 4700 TYPE II eine qualitativ hochwertige Bildgebung einfach und intuitiv. Die Einheit umfasst auch mehrere analytische Technologien, einschließlich Röntgenenergie-dispersive Spektrometrie (EDS) und sekundäre Elektronen (SE) Bildgebung, um umfassende elementare und chemische Informationen über eine Probe zur Verfügung zu stellen. Die Fähigkeit, Live-Bildgebung und dynamische Bildoptimierung durchzuführen, gewährleistet eine optimale Bildqualität. Zusätzlich zu den Standard-Imaging-Funktionen ist HITACHI S-4700 Type II mit einer automatisierten Stufe mit hohem Durchsatz ausgestattet, die mehrere Proben gleichzeitig verarbeiten kann. Die Bühne kann sich schnell zwischen den Proben bewegen und die SEM-Strom- und Vergrößerungseinstellungen automatisch anpassen und so präzise und saubere Bilder liefern. Ein großer Vorteil von HITACHI S 4700 TYPE II ist seine Portavis-Ionensäule, die im Vergleich zu anderen SEMs eine überlegene Genauigkeit und Qualität der Ionenstrahlabscheidung bietet. Die Maschine ist auch kompatibel mit einem automatisierten Wafer-Spannfutter, das entwickelt wurde, um perfekte Ebenheit zu gewährleisten, die Genauigkeit und Wiederholbarkeit während der Analyse von Halbleitern zu verbessern. Schließlich sind ein Vakuumwerkzeug, ein He/Ar-Gasgemisch und eine kryogene Stufe alle Standardmerkmale, die in S-4700 Typ II enthalten sind, was den Benutzern mehrere Möglichkeiten zur Vorbereitung ihrer Proben bietet. Insgesamt ist S 4700 TYPE II eine ausgezeichnete Wahl für jede Anwendung, die überlegene bildgebende Funktionen, automatisierte Probenverarbeitung und zuverlässige analytische Funktionen erfordert. HITACHI S-4700 Type II bietet mit seinem breiten Spektrum an Funktionen und Fähigkeiten zuverlässige und präzise Ergebnisse für eine Vielzahl von Materialien.
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