Gebraucht HITACHI S-4700 Type II #9299922 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S-4700 Type II (SEM) ist ein leistungsstarkes Forschungsinstrument zur Analyse der Mikrostruktur eines Objekts bei sehr hohen Vergrößerungen. Das Mikroskop erzeugt eine Vielzahl von Bildern, von der Oberflächentopographie bis zur Innenstruktur der Probe, die eine eingehende Analyse ihrer Zusammensetzung und Eigenschaften ermöglicht. Das Mikroskop bietet zudem ein breites Spektrum an Sekundär- und Analyseelektronik. Mit dem Sekundärelektronendetektor kann man die Oberflächenmerkmale bei sehr hohen Vergrößerungen verstehen. Der Analysator-Detektor hingegen ermöglicht es dem Benutzer, das Licht und die chemischen Elemente in der Probe zu detektieren. Darüber hinaus führt der Aufbau der Energiedispersiven Spektrometrie (EDS) eine Röntgenanalyse durch. Das Mikroskop ist mit einem hochempfindlichen und feinauflösenden Sekundärelektronendetektor ausgestattet, der eine Reihe von Informationen detektiert und anzeigt. Die hochauflösende Digitalkamera ermöglicht es dem Benutzer, Bilder schnell und effizient aufzunehmen. HITACHI S 4700 TYPE II SEM enthält eine voll motorisierte und hochvakuumfähige TGT (Target Gas Injection) -Ausrüstung. Dieses Merkmal erzeugt einen größeren Strahl, was zu weniger Strahldivergenz und einem engeren Elektronenstrahlfokus führt. Das optische System des Instruments ist in der Lage, ein bildgebendes Feld von bis zu 27mm zu erzeugen und unterstützt Vergrößerungen bis zu 1840x. Darüber hinaus wurde das Mikroskop entwickelt, um eine stabile und präzise Arbeitsfläche zu liefern. Dazu werden auf der Probenstufe sanfte Kurven und kleine Verjüngungen verwendet. Der XYZ-Scanner, die Laserinterferometerstufe und die motorisierte Einheit ermöglichen es dem Benutzer, die Messungen genau einzurichten. Die benutzerfreundliche Bedienoberfläche in der Software ermöglicht es Anwendern, schnell und einfach auf die Parameter des SEM zuzugreifen. Darüber hinaus können die Scan-Zyklen, Scan-Daten und Scan-Zone-Einstellungen sofort geändert werden. Diese Maschine macht es einfach, die Abbildungsparameter zu konfigurieren und die Ergebnisse zu beobachten. Der Oberflächendetektor des S-4700 Typ II SEM liefert auch Daten aus allen 3 Dimensionen, die zur genauen Messung der topographischen Merkmale verwendet werden können. Darüber hinaus ermöglicht die Möglichkeit, visuelle oder grafische Masken in Kombination mit dem Positionsadapter (PA) zu verwenden, eine flächen- oder linearspezifische Analyse. Insgesamt ist S 4700 TYPE II SEM ein fortschrittliches Forschungstool, das eine breite Palette von bildgebenden Funktionen bietet. Mit seinem schnellen visuellen Feedback und der effizienten Bedienung eignet sich das Mikroskop für Studien in Bereichen wie Biologie, Materialwissenschaft und Halbleitertechnik.