Gebraucht HITACHI S-4700 Type II #9299929 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Type II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Bildgebung und Analyse aller Arten von Materialien entwickelt wurde. Dieses SEM verfügt über einen hochmodernen In-Lens-Sekundärelektronendetektor und eine neu konzipierte Elektronensäule. Die Elektronensäule erzeugt hochauflösende Bilder mit niedrigem Rauschpegel. Der Vergrößerungsbereich von HITACHI S 4700 TYPE II kann bis zu 500.000x erreichen und ist somit für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet. Das Modell verfügt außerdem über einen großen Tiefenschärfendetektor mit einer Feldemissionskathode, der eine hohe Probenstabilität und ein möglichst geringes Rauschen gewährleistet. Darüber hinaus umfasst das System ein laserbasiertes Probenpositioniersystem, das eine wiederholbare und zuverlässige Ausrichtung der Probenstellen ermöglicht. S-4700 Typ II ist auch mit einer Reihe von Detektoren und automatisierten Analysetools ausgestattet, einschließlich der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) und der Kathodolumineszenz (CL) Spektroskopie, zur umfangreichen Analyse von untersuchten Proben. Das S 4700 TYPE II wurde für die manuelle Musterpositionierung entwickelt und verfügt über eine automatisierte Probenausrichtung und Bewegung auf x-, y- und z-Achsen. Darüber hinaus ermöglicht die große Probenkammer des Modells die Abbildung und Analyse von Proben bis zu 200mm. Auch eine Vielzahl von optischen Zubehörteilen, wie ein DIC-Kopf (Differential Interference Contrast), ein Stereo-Viewer und ein Polarisationsanalysator, stehen für eine verbesserte Probenbeobachtung zur Verfügung. HITACHI S-4700 Type II ist mit einer Vielzahl von Computern kompatibel, so dass Benutzer Bilder und Daten schnell und bequem übertragen können. Dieses SEM ist die perfekte Wahl für fortgeschrittene Forschung, da es in der Lage ist, Proben bis zum Nanometerstand abzubilden und zu analysieren.