Gebraucht HITACHI S-4700 Type II #9382370 zu verkaufen

HITACHI S-4700 Type II ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FE-SEM) zur Bildgebung, Analyse und Messung von Bildern verschiedener Proben. Diese Art von Mikroskop verwendet einen fokussierten Elektronenstrahl als Quelle, der eine extrem hohe Vergrößerung und Auflösung von bis zu 500 k × ermöglicht. Das hochspezialisierte SEM arbeitet sowohl im Nieder- als auch im Hochvakuum-Modus und verfügt über zahlreiche Funktionen, um die mit dieser Art von Mikroskop verfügbaren erhöhten Vergrößerungsgrößen zu nutzen. Sein Aufbau besteht aus einer Kathoden- und Säulensatzanordnung, einer Sekundärelektronenquelle, einer Probenkammer und einer elektromagnetischen Linse, die als fokussierendes Element wirkt. Mit einem Scanbereich von bis zu 500 ㎛ bietet HITACHI S 4700 TYPE II vielfältige Möglichkeiten zur Probenanalyse und Bildgebung. Um die Bildgebung mit hoher Vergrößerung zu erleichtern, verfügt der S-4700 Typ II über eine Elektronenquelle mit Kaltfeldemission, analytische Fähigkeiten auf der Achse und eine breite Palette von Sichtfeldern. Die On-Axis-Analysefunktionen bieten eine erweiterte Palette von Informationen über die Probe. Strukturanalysen wie elementare Zusammensetzung, Oberflächentopographie, Deckschichten, kristallographische Struktur und die innere Zusammensetzung eines Materials sind aufgrund der zusätzlichen Auflösung, Signalstärke und Empfindlichkeit möglich. Die Auflösung und Vergrößerung auf dem S-4700 Typ IIist am eindrucksvollsten. Sowohl die x-y- als auch die z-Achse sind in der Lage, die Positionierung der Probe relativ zum Elektronenstrahl zu steuern, um die höchste Auflösungsgenauigkeit zu erreichen. Ein Niedrigvakuum-Modus ermöglicht bis zu 5K × Vergrößerung, während ein Hochvakuum-Modus führt zu bis zu 500K × Vergrößerung. Neben der hohen Auflösung bietet der S-4700 Typ II auch die Möglichkeit der Bildgebung in einer Vielzahl von Geschwindigkeiten. Dieser Geschwindigkeitsbereich ermöglicht eine Reihe von möglichen Versuchszeiten und Probenlebensdauer aufgrund der Grenzen für mögliche Elektronenstrahlschäden. Die auf dem S-4700 Typ II verfügbaren Analysen umfassen die automatische Erfassung von MINT-Bildern, die Steuerung der Signalintensität, die rückgestreute Elektronenbildgebung und die chemische Analyse über die energiedispersive Spektroskopie (EDS). Diese Kombination aus hochwertiger Bildgebung, außergewöhnlicher Mobilität und umfassender Analysefähigkeit ist von jedem anderen SEM-System unübertroffen. Mit der neuesten FE-SEM-Technologie ist der S-4700 Typ II für diejenigen ausgelegt, die maximale Auflösung und Effektivität benötigen. Die Eigenschaften und Fähigkeiten des S-4700 Typ II liefern Forschern, Wissenschaftlern und Ingenieuren zuverlässige Ergebnisse und vertrauenswürdige Bilder in Industrie und Labor. Seine fortschrittliche und leistungsstarke Technologie macht den S-4700 Typ IIdie perfekte Wahl für diejenigen, die nach der höchsten Qualität der Bildgebung suchen.