Gebraucht HITACHI S-4700 #150536 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 150536
FE SEM
1.5 nm resolution at 15 kV, 12 mm WD
2.5 nm resolution at 1 kV, 2.5 mm WD
Magnification ranges: 30x to 500,000x
Specimen tilt at 12 mm WD up to 45°
Brightness: ~ 2 X 109 A / cm2/sr
Energy spread: 0.2 to 0.3 eV
Sample capacity: 100mm diameter x 17mm thick H maximum
Oil-free vacuum systems pump column and sample exchange
Image modes: secondary and backscattered electron images
(2) Secondary electron detectors: above and below objective lens
Digital image formats:
BMP, TIFF, JPEG at 640 X 480, 1280 X 960, or 1560 X 1920 pixels
Includes:
Non-cryo sample holders
CryoSEM observation using EMITECH K-1250 cryo stage
Backscatter imaging at TV rates and low voltage (threshold 2.5 kV on gold) with Autrata modified YAG (yttrium aluminum garnet, cerium doped) crystal
KEITHLEY specimen current detector
Applications:
High-resolution topographic contrast (Se) and atomic number contrast (BSe) imaging of biological and non-biological samples in both room temperature and cryo modes
Applicable to imaging of immunogold labeled individual cells and bacteria
Specifications:
Secondary electron image resolution
2.1 nm guaranteed (at 1 kV)
1.5 nm guaranteed (at 15 kV and W.D. 12 mm or X-ray analysis position)
Backscattered electron image resolution (optional)
3.0 nm guaranteed (at 15 kV YAG detector, optional)
Cold finger and specimen exchange chamber as standard. Allowing sample exchange via airlock without repositioning
Optional integrated EDX system with 30 degree take-off angle
Fully digital imaging, image processing and archiving system
Dual SE detectors for versatile imaging (SE and BSE)
ExB energy filter
Beam shift: +/-15um.
HITACHI S-4700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Teil der S-Serie von SEMs ist, die von HITACHI Ltd. HITACHI S 4700 ist ein Hochleistungs-SEM, das qualitativ hochwertige Bilder produziert und über eine Reihe benutzerfreundlicher Funktionen verfügt. S-4700 hat eine Reihe von einzigartigen Eigenschaften, die es zu einer ausgezeichneten Wahl für den Einsatz in Forschungs- und Bildungseinrichtungen machen. Es hat ein großes Sichtfeld (FOV), so dass es Bilder von großen Proben und Bereichen zu erfassen. Seine hohe Auflösung und Kontrastfähigkeit erzeugen detaillierte und scharfe Bilder mit minimalem Hintergrundrauschen. Der Bildstapelmodus ermöglicht es Benutzern, mehrere durchgehende Abschnitte mit verschiedenen Betrachtungswinkeln und Vergrößerungen zu erwerben. S 4700 ist für eine Vielzahl von Mustertypen gut geeignet. Seine hohe Geschwindigkeit und leistungsstarke Vergrößerungsbereich (bis zu 1000x) machen es geeignet für die Beobachtung von Dingen wie Metalle und Keramik mit Nanometer-Auflösung. Die große Bandbreite an Spannungseinstellungen (0.5kV-30kV) ermöglicht es Benutzern, das Mikroskop schnell für die Beobachtung von Proben mit einer Vielzahl von Formen, Größen und Materialien einzustellen. Die kleinen Punkt- und Spaltengrößenoptionen für den Elektronenstrahl bieten weitere Flexibilität für die Probenbeobachtung. HITACHI S-4700 ist zudem mit einer Vielzahl benutzerfreundlicher Funktionen ausgestattet. Das große LCD-Display und die Touchscreen-Schnittstelle bieten einfachen Zugriff auf alle Funktionen und Einstellungen des SEM. Sein Tieftemperaturmodus, das automatische Driftkorrektursystem und eine Autozenterkamera machen den Datenerfassungsprozess einfach und problemlos. Abschließend ist HITACHI S 4700 ein Hochleistungs-SEM, das hochwertige Bilder produziert und über eine Reihe benutzerfreundlicher Funktionen verfügt. Es ist sehr vielseitig, so dass Benutzer eine breite Palette von Proben und Materialien zu erkunden. Das große Sichtfeld und die leistungsstarke Vergrößerungsreichweite machen es für Anwendungen wie Metalle und Keramikbeobachtung mit Nanometerauflösung geeignet.
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